Zobrazeno 1 - 10
of 232
pro vyhledávání: '"R. van Dalen"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
SCOREN bij ongewenst gedrag is een praktische handreiking voor (aankomende) professionals in de zorg, onderwijs en dienstverlening, om ongewenst gedrag te voorkomen of om te buigen. Wat'ongewenst'is, dat is voor iedereen verschillend. Maar ongewenst
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S. Theeuwen, Guoqiao Tao, Tsung-Miau Wang, Yung-Wen Cheng, Shih-Yuan Chen, R. van Dalen, Yu-Fei Jhuang, H. Bosch, A. Romanescu, R. Koster
Publikováno v:
2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA).
Lots of studies have been dedicated to NBTI/PBTI in CMOS technologies, where the gate stack is most important. In this paper, we report our study of NBTI/PBTI in LDMOST technologies for RF Power applications. The observed BTI effect is associated to
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e51ef6e3359a9fe5dee0e4f521458186
https://doi.org/10.1109/ipfa.2018.8452182
https://doi.org/10.1109/ipfa.2018.8452182
Autor:
Christopher Weidenmaier, Matevž Rumpret, Andreas Peschel, Teunis B. H. Geijtenbeek, Christoph Rademacher, N. van Sorge, R. van Dalen
Publikováno v:
European journal of immunology. 47
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6bea28ee128e8cfac36a2cb4d3faf599
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29265363
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/29265363
Autor:
Arthur Wang, R van dalen, Derek M. McKay, Alpana Saxena, Humberto Jijon, Fernando Lopes, A. Al Rajabi, Dana J. Philpott, Nicole L. Mancini, Wallace K. MacNaughton, Jose-Luis Reyes, Johan D. Söderholm, Åsa V. Keita
Publikováno v:
Journal of the Canadian Association of Gastroenterology. 1:503-504
BACKGROUND: The barrier function of the intestinal epithelium is a first-line of defense that is compromised in IBD. We have shown that epithelia treated with dinitrophenol (DNP: uncouples oxidative phosphorylation) have a dramatic impairment in thei
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::070123145111d8cf2be0067bac5aa89e
https://doi.org/10.1093/jcag/gwy008.291
https://doi.org/10.1093/jcag/gwy008.291
Publikováno v:
2016 17th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE).
In this paper we present an approach to provide insight in electrical parameter shifts due to mechanical stress by means of mechanical modelling through FEA. A fast assessment of the expected parameter shift as a function of location and current dire
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dd44a78b7fc5f1d867625fcbda1eb0f5
https://doi.org/10.1109/eurosime.2016.7463362
https://doi.org/10.1109/eurosime.2016.7463362
Autor:
M. Stoutjesdijk, R. van Dalen, J. H. J. Janssen, J. J. M. Zaal, F. H. M. Swartjes, Hans Tuinhout, L. Brusamarello, J. van Zwol, M. Stekelenburg, M. C. Lammers, P. A. M. Bastiaansen
Publikováno v:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
A methodology is presented that allows quantitative prediction of the impact of WLCSP induced mechanical stress on high precision mixed-signal ICs. The simulation flow was tuned using high-resolution experimental variability data measured on dedicate
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::748a152ac94acc7533394c4c199a561b
https://doi.org/10.1109/iedm.2015.7409646
https://doi.org/10.1109/iedm.2015.7409646