Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"R. Strenaer"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices
IEEE Transactions on Electron Devices, 2022, 69 (11), pp.6010-6015. ⟨10.1109/TED.2022.3209636⟩
IEEE Transactions on Electron Devices, 2022, 69 (11), pp.6010-6015. ⟨10.1109/TED.2022.3209636⟩
International audience; The aim of this article is to detect electron traps in AlInN/GaN transistors operating at room temperature by combining pulsed electrical measurement with photoionization techniques to rapidly assess their activation energies
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.