Zobrazeno 1 - 10
of 255
pro vyhledávání: '"R. Ramaseshan"'
Publikováno v:
Scientific Reports, Vol 7, Iss 1, Pp 1-18 (2017)
Abstract Quest for efficient ion conducting electrolyte thin film operating at intermediate temperature (~600 °C) holds promise for the real-world utilization of solid oxide fuel cells. Here, we report the correlation between mixed as well as prefer
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c881d9d4d01e4235bddf8507d739993e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Materials Research. 36:3063-3073
Molecular dynamics studies with 3D model using spherical indenter and 2D plane strain model using cylindrical indenters revealed that the optimum coating thickness maximizing the hardness for a single layered nanocoating lies between 15 nm and 20 nm.
Autor:
M. Arvinth Davinci, Gopa Chakraborty, C. R. Das, R. Ramaseshan, Revati Rani, Shaju K. Albert, Tom Mathews
Publikováno v:
Tribology Transactions. 64:658-666
The friction and wear behavior of electrode rod nickel chromium (ER NiCr) nickel-based hardfacing alloys ER NiCr-A, ER NiCr-B, and ER NiCr-C deposited over austenitic stainless steel was studied ag...
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Materials Today: Proceedings. 47:1091-1098
The structural, nanomechanical and corrosion properties of TiC and TiN thin films prepared by pulsed dc sputtering under similar processing conditions were investigated. X-ray diffraction, scanning electron microscopy and atomic force microscopy tech
Autor:
Jose, Feby, R., Ramaseshan, Dash, S., S., Tripura Sundari, Jain, Deepti, V., Ganesan, P., Chandramohan, M.P., Srinivasan, Tyagi, A.K., Raj, Baldev
Publikováno v:
In Materials Chemistry and Physics 2011 130(3):1033-1037
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.