Zobrazeno 1 - 10
of 49
pro vyhledávání: '"R. Possamai"'
Autor:
C. S. Dyer, K. A. Ryden, P. A. Morris, A. D. P. Hands, P. J. McNulty, J. -R. Vaille, L. Dusseau, G. Cellere, A. Paccagnella, H. J. Barnaby, A. R. Benedetto, R. Velazco, R. Possamai Bastos, D. Brewer, J. L. Barth, K. A. LaBel, M. J. Campola, Y. Zheng, M. A. Xapsos
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 70:200-215
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::df2b7cde00fb22098443e673342231af
https://doi.org/10.1109/tns.2023.3239734
https://doi.org/10.1109/tns.2023.3239734
Autor:
Viera, R.A.C., Dutertre, J.-M., Flottes, M.-L., Potin, O., Natale, G. Di, Rouzeyre, B., Bastos, R. Possamai
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:128-134
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:68-74
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
A software technique is presented to protect commercial multi-core microprocessors against radiation-induced soft errors. Important time overheads associated with conventional software redundancy techniques limit the feasibility of advanced critical
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b79acff2a7583e61c18803d6613141a2
https://hdl.handle.net/10045/132363
https://hdl.handle.net/10045/132363
Autor:
M. Garay Trindade, Rafael Garibotti, Luciano Ost, M. Letiche, R. Possamai Bastos, J. Beaucour
Publikováno v:
16th International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA 2020)
16th International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA 2020), Dec 2020, Porto Alegre (Virtual edition), Brazil
ICECS
IEEE International conference on electronics, circuits & systems (ICECS 2020)
IEEE International conference on electronics, circuits & systems (ICECS 2020), Nov 2020, Glasgow, SCOTLAND, United Kingdom
16th International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA 2020), Dec 2020, Porto Alegre (Virtual edition), Brazil
ICECS
IEEE International conference on electronics, circuits & systems (ICECS 2020)
IEEE International conference on electronics, circuits & systems (ICECS 2020), Nov 2020, Glasgow, SCOTLAND, United Kingdom
International audience; Machine learning (ML) algorithms have been regaining momentum thanks to their ability to analyze substantial and complex data, supporting artificial intelligence decisions in cloud computing but also in near-sensor computing i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f5fded00053b446443ea9f3df1cb9502
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03100531/file/2020-SERESSA-MultiRad-vFinal.pdf
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03100531/file/2020-SERESSA-MultiRad-vFinal.pdf
Autor:
J. Beaucour, M. Letiche, B. Cheymol, R. Possamai Bastos, Raphael A. C. Viera, M. Garay Trindade, Jean-Max Dutertre, Olivier Potin
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, 67 (7), pp.1404-1411. ⟨10.1109/tns.2020.2975923⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, 67 (7), pp.1404-1411. ⟨10.1109/tns.2020.2975923⟩
International audience; This article assesses, for the first time, a body/bulk built-in current sensor (BBICS) in a CMOS 65-nm test chip under thermal neutron, high-energy neutron, and laser radiation. Experimental results suggest that the on-chip cu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::15160f771c60883d69342993d00ac58e
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02482517
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02482517
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.