Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"R. Kepenek"'
Publikováno v:
2008 Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics.
This paper reports a 2nd order electromechanical sigma-delta accelerometer system. Accelerometer is fabricated using dissolved wafer process, and has a structural thickness of 15 mum. A large proof mass is used to decrease the mechanical noise of the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0113e3ce0469fd44ff51f9211f65dfd8
https://doi.org/10.1109/rme.2008.4595720
https://doi.org/10.1109/rme.2008.4595720
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.