Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"R. Jokai"'
Autor:
A. Privat, Lawrence T. Clark, John Brunhaver, Madeline Esposito, A. Duvnjak, Hugh J. Barnaby, Matthew J. Marinella, Jack E. Manuel, Keith E. Holbert, R. Jokai, M. Spear, Michael Lee McLain, M. P. King
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 68:671-676
Total ionizing dose response of 14-nm bulk-Si FinFETs has been studied with a specially designed test chip. The radiation testing shows evidence of interface trap build-up on 14-nm Bulk FinFET technologies. These defects created in the isolation laye
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f7fac0376effd7a8b6dceeb5fb38b665
https://doi.org/10.1109/tns.2021.3065267
https://doi.org/10.1109/tns.2021.3065267
Autor:
A. Privat, Jack E. Manuel, Michael Lee McLain, John Brunhaver, Matthew J. Marinella, M. Spear, R. Jokai, Keith E. Holbert, Lawrence T. Clark, A. Duvnjak, Michael King, Hugh J. Barnaby, Madeline Esposito
Publikováno v:
Proposed for presentation at the Nuclear & Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2020 held December 1-8, 2020..
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4aa95b0bc0b32c6295335747e6af093a
https://doi.org/10.2172/1831025
https://doi.org/10.2172/1831025
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.