Zobrazeno 1 - 10
of 84
pro vyhledávání: '"R. Hylton"'
Autor:
Veronica Abebe, Gagik Amaryan, Marina Beshai, null Ilene, Ali Ekin Gurgen, Wendy Ho, Naaji R. Hylton, Daniel Kim, Christy Lee, Carina Lewandowski, Katherine T. Miller, Lindsey A. Moore, Rachel Sylwester, Ethan Thai, Frelicia N. Tucker, Toussaint Webb, Dorothy Zhao, Haicheng Charles Zhao, Janet Vertesi
Publikováno v:
CHI Conference on Human Factors in Computing Systems Extended Abstracts.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::54bfae5da0fbf6bfeea22505abd1481c
https://doi.org/10.1145/3491101.3516382
https://doi.org/10.1145/3491101.3516382
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Annals of plastic surgery, vol 78, iss 5 Suppl 4
Hinchcliff, KM; Hylton, JR; Orbay, H; & Wong, MS. (2017). Intraoperative placement of pectoral nerve block catheters description of a novel technique and review of the literature. Annals of Plastic Surgery, 78(5), S189-S193. doi: 10.1097/SAP.0000000000000954. UC Davis: Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/9dg5b2n5
Hinchcliff, KM; Hylton, JR; Orbay, H; & Wong, MS. (2017). Intraoperative placement of pectoral nerve block catheters description of a novel technique and review of the literature. Annals of Plastic Surgery, 78(5), S189-S193. doi: 10.1097/SAP.0000000000000954. UC Davis: Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/9dg5b2n5
Copyright © 2017 Wolters Kluwer Health, Inc. All rights reserved. Regional and neuraxial anesthesia for pain management after breast surgery is notwidely used despite data showing improved postoperative pain control and patient satisfaction scores.W
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3376cefacad52571182ca0af53daf88d
https://doi.org/10.1097/sap.0000000000000954
https://doi.org/10.1097/sap.0000000000000954
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
B. C. Knapp, J. T. White, E. P. Hartouni, G. Gutierrez, J. Uribe, B. J. Stern, M. Rabin, F. R. Huson, R. Hylton, J. Strait, A. A. Wehmann, B. Klima, Erik Gottschalk, C. Avilez, L. R. Wiencke, M. Forbush, M. D. Church, S. D. Holmes, M. N. Kreisler, W. Sippach, D. A. Jensen, D. C. Christian
Publikováno v:
Physical Review D. 46:3708-3711
In a study of collisions of 27.5 GeV/{ital c} protons in liquid hydrogen we have observed enhanced production of oppositely charged hadron pairs when the relative velocity of the two hadrons in the pair rest frame approaches {alpha}{ital c}. The scal
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d219b6051b19bfc56c73ce948e37ab55
https://doi.org/10.1103/physrevd.46.3708
https://doi.org/10.1103/physrevd.46.3708
Autor:
Ronald R. Hylton
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
This paper describes the electrical signatures and failure analysis techniques used to identify plastic encapsulated devices that have failed due to silver migration. This migration, which produces resistive leakages between adjacent pins, has been a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::34a846f1297e40ba97ca8e05d6869431
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2008p0112
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2008p0112
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ronald R. Hylton
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
In situ decapsulation of plastic devices can be used to avoid the removal or alteration of failure mechanisms caused by exposure to desoldering temperatures. This paper describes techniques to decapsulate devices mounted to a printed circuit board us
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::514169df31499a018b559d07730fdca0
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2002p0333
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2002p0333