Zobrazeno 1 - 10
of 652
pro vyhledávání: '"R. Hsieh"'
Autor:
Amelia Sancilio, Joshua M. Schrock, Alexis R. Demonbreun, Richard T. D’Aquila, Brian Mustanski, Lauren A. Vaught, Nina L. Reiser, Matt P. Velez, Ryan R. Hsieh, Daniel T. Ryan, Rana Saber, Elizabeth M. McNally, Thomas W. McDade
Publikováno v:
Scientific Reports, Vol 12, Iss 1, Pp 1-7 (2022)
Abstract Serological testing for SARS-CoV-2 IgG antibodies is used to assess their presence in blood samples from exposed individuals and provides a measure of the magnitude of immune response to infection. The measurement of neutralizing antibodies
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/10b43a9fc4974056b72ea7cf53bf71a4
Autor:
Alexis R. Demonbreun, Amelia Sancilio, Matt P. Velez, Daniel T. Ryan, Rana Saber, Lauren A. Vaught, Nina L. Reiser, Ryan R. Hsieh, Richard T. D'Aquila, Brian Mustanski, Elizabeth M. McNally, Thomas W. McDade
Publikováno v:
EClinicalMedicine, Vol 38, Iss , Pp 101018- (2021)
Background: Recent reports have suggested that among individuals previously infected with SARS-CoV-2, a single mRNA vaccine dose is sufficient to elicit high levels of immunity. Methods: We compared anti-SARS-CoV-2 spike receptor binding domain (RBD)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/93be69f2f8f34777bb1392c684fc7f7d
Autor:
Alexis R. Demonbreun, Thomas W. McDade, Lorenzo Pesce, Lauren A. Vaught, Nina L. Reiser, Elena Bogdanovic, Matthew P. Velez, Ryan R. Hsieh, Lacy M. Simons, Rana Saber, Daniel T. Ryan, Michael G. Ison, Judd F. Hultquist, John T. Wilkins, Richard T. D’Aquila, Brian Mustanski, Elizabeth M. McNally
Publikováno v:
JCI Insight, Vol 6, Iss 9 (2021)
BACKGROUND Estimates of seroprevalence to SARS-CoV-2 vary widely and may influence vaccination response. We ascertained IgG levels across a single US metropolitan site, Chicago, from June 2020 through December 2020.METHODS Participants (n = 7935) wer
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/506a9393402e45c3aa2ada0ea7652800
Autor:
E. R. Hsieh, Z. Y. Wang, Y. H. Ye, Y. S. Wu, C. F. Huang, P. S. Huang, Y. S. Huang, M. L. Miu, H. S. Su, S. Y. Huang, S. M. Lu
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 43:1396-1399
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.