Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"R. Delater"'
Autor:
C. Arnaud, G. Madan, R. Delater, Arpan Gupta, Florian Cacho, A. Ripp, Vincent Huard, A. Aggarwal, C. Roma, Paras Garg, M. Rizvi, Nitin Bansal
Publikováno v:
2014 IEEE International Reliability Physics Symposium.
Design-in-Reliability is becoming widely used as standard in Microelectronics Companies to qualify IPs reliability. In AMS applications, the quest for optimal design for manufacturability is difficult to handle because of the multiple dimensions of t
Autor:
V. Robert, Sylvain Engels, Philippe Flatresse, Florian Cacho, P. Mergault, Lorena Anghel, R. Delater, Vincent Huard, Damien Croain, E. Pion, N. Ruiz Amador
Publikováno v:
Proc. of IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS'12)
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS'12)
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS'12), Apr 2012, Anaheim, CA, United States. pp.4B.1.1-4B.1.10, ⟨10.1109/IRPS.2012.6241830⟩
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS'12)
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS'12), Apr 2012, Anaheim, CA, United States. pp.4B.1.1-4B.1.10, ⟨10.1109/IRPS.2012.6241830⟩
ISBN 978-1-4577-1678-2; This paper has been granted the OUTSTANDING PAPER AWARD; International audience; This work has introduced a new electrical aging assessment framework for digital systems, based upon strong physics-based foundations and an adeq
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f1cb61defe9a1b568b1e53fe62c3a46f
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00747363
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00747363
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.