Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"R. Castille"'
Autor:
Ann-Marie R. Castille
Publikováno v:
Industrial and Organizational Psychology. 15:205-207
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::95a3391871749984b2ff5c429c684c2b
https://doi.org/10.1017/iop.2022.18
https://doi.org/10.1017/iop.2022.18
Autor:
Ann-Marie R. Castille
Publikováno v:
Industrial and Organizational Psychology. 13:467-470
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::775be69defe600241c74d240fa7bc6ad
https://doi.org/10.1017/iop.2020.90
https://doi.org/10.1017/iop.2020.90
Publikováno v:
Industrial and Organizational Psychology. 12:310-313
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8fc5f51cf92e72ce16a8adda64e6c3f7
https://doi.org/10.1017/iop.2019.53
https://doi.org/10.1017/iop.2019.53
Melson-Silimon and colleagues (2018) raise an important issue that IO psychologists should take seriously: as we integrate normal and abnormal personality models, we may find that personality assessments adversely impact the mentally disabled. Though
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fd438fb13d5e9251ec82b2b2bcdfbbf2
https://doi.org/10.31219/osf.io/qan42
https://doi.org/10.31219/osf.io/qan42
Autor:
S. Agarwala, P. Koeppen, T. Anderson, A. Hill, M. Ales, R. Damodaran, L. Nardini, P. Wiley, S. Mullinnix, J. Leach, A. Lell, M. Gill, J. Golston, D. Hoyle, A. Rajagopal, A. Chachad, M. Agarwala, R. Castille, N. Common, J. Apostol, H. Mahmood, M. Krishnan, null Duc Bui, null Quang-Dieu An, P. Groves, null Luong Nguyen, N.S. Nagaraj, R. Simar
Publikováno v:
2002 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37315).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::04ba1b9810e3198c2ce95d509f3cf7d9
https://doi.org/10.1109/isscc.2002.992098
https://doi.org/10.1109/isscc.2002.992098
Autor:
S. Agarwala, P. Koeppen, T. Anderson, A. Hill, M. Ales, R. Damodaran, L. Nardini, P. Wiley, S. Mullinnix, J. Leach, A. Lell, M. Gill, J. Golston, D. Hoyle, A. Rajagopal, A. Chachad, M. Agarwala, R. Castille, N. Common, J. Apostol, H. Mahmood, M. Krishnan, null Duc Bui, null Quang-Dieu An, P. Groves, L. Nguyen, N.S. Nagaraj, R. Simar
Publikováno v:
2002 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37315).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::803b8b69cb9bd9a0520c9a258a96dde2
https://doi.org/10.1109/isscc.2002.992936
https://doi.org/10.1109/isscc.2002.992936
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.