Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"R. Blice"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 30:4216-4223
Total dose failure levels in digital bipolar microcircuits utilizing recessed oxides were measured at levels as low as 5 Krad(Si). Typical failure levels are in the 10-100 Krad(Si) range. Failure was found to be a strong function of irradiation bias
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b739d9209b8bdc1aecd532f95f360721
https://doi.org/10.1109/tns.1983.4333111
https://doi.org/10.1109/tns.1983.4333111
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.