Zobrazeno 1 - 10
of 18
pro vyhledávání: '"R. Asthelmer"'
Autor:
B. J. Howell, A. Mann, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. Vaughan, D. E. Williamson, J. J. J. Staunton, G. L. Mitchell, W. H. Lee, L. S. Sadovnik, R. Prescott, D. C. Gilkeson, S. F. Jacobs, J. A. Decker, A. Brunsting, R. L. Hilliard, E. Loewen, D. L. Sullivan, H. Miranda, S. K. Tchejeyan, R. Asthelmer, I. J. Abramovitz
Publikováno v:
Applied Optics. 34:1631
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6a87be51ee6c2eb4c0fb9ce35713949a
https://doi.org/10.1364/ao.34.001631
https://doi.org/10.1364/ao.34.001631
Autor:
G. L. Mitchell, D. L. Sullivan, E. Loewen, I. J. Abramovitz, H. Miranda, R. Asthelmer, D. C. Gilkeson, D. E. Williamson, A. Mann, S. F. Jacobs, R. Kingslake, S. K. Tchejeyan, A. Brunsting, J. J. J. Staunton, R. Prescott, P. Wakeling, R. L. Hilliard, W. Vaughan, B. J. Howell, M. Handschy, J. A. Decker, W. J. Tomlinson, L. S. Sadovnik, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. H. Lee
Publikováno v:
Applied Optics. 33:6567
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a2dd6c4de2005be2d4eb8d2c04d2f5e7
https://doi.org/10.1364/ao.33.006567
https://doi.org/10.1364/ao.33.006567
Autor:
J. A. Decker, W. J. Tomlinson, G. L. Mitchell, D. C. Leiner, I. J. Abramovitz, P. M. Kuhn, D. L. Sullivan, M. Handschy, S. F. Jacobs, R. L. Hilliard, R. Asthelmer, W. H. Lee, A. Brunsting, R. Kingslake, J. J. J. Staunton, D. C. Gilkeson, E. Loewen, L. S. Sadovnik, A. Mann, H. Miranda, W. Vaughan, B. J. Howell, R. Prescott, S. K. Tchejeyan, D. E. Williamson, P. Wakeling
Publikováno v:
Applied Optics. 33:3802
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8806a13e072a3c272286a0f947c6accd
https://doi.org/10.1364/ao.33.003802
https://doi.org/10.1364/ao.33.003802
Autor:
H. Miranda, L. S. Sadovnik, R. Asthelmer, R. Prescott, G. L. Mitchell, B. J. Howell, R. Kingslake, D. C. Gilkeson, E. Loewen, I. J. Abramovitz, W. H. Lee, J. A. Decker, S. F. Jacobs, M. Handschy, A. Mann, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. Vaughan, S. K. Tchejeyan, D. E. Williamson, A. Brunsting, W. J. Tomlinson, R. L. Hilliard, J. J. J. Staunton, D. L. Sullivan, P. Wakeling
Publikováno v:
Applied Optics. 33:3159
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::27f7ce05ca19344e7df6c62f767033e2
https://doi.org/10.1364/ao.33.003159
https://doi.org/10.1364/ao.33.003159
Autor:
M. Handschy, P. Wakeling, E. Loewen, W. H. Lee, D. E. Williamson, D. C. Gilkeson, A. Brunsting, D. L. Sullivan, R. L. Hilllard, A. Mann, J. A. Decker, S. K. Tchejeyan, B. J. Howell, R. Kingslake, D. C. Leiner, W. J. Tomlinson, S. F. Jacobs, J. J. J. Staunton, P. M. Kuhn, G. L. Mitchell, W. Vaughan, H. Miranda, I. J. Abramovitz, R. Asthelmer, R. Prescott, L. S. Sadovnik
Publikováno v:
Applied Optics. 32:6208
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::106618e4f1e0c583b1763f0efa033bd8
https://doi.org/10.1364/ao.32.006208
https://doi.org/10.1364/ao.32.006208
Autor:
B. J. Howell, I. J. Abramovitz, S. F. Jacobs, A. Mann, D. L. Sullivan, R. Asthelmer, R. Kingslake, H. Miranda, S. K. Tchejeyan, A. Brunsting, P. M. Kuhn, G. L. Mitchell, W. J. Tomlinson, J. A. Decker, W. H. Lee, R. Prescott, W. Vaughan, D. C. Gilkeson, D. C. Leiner, L. S. Sadovnik, P. Wakeling, M. Handschy, E. Loewen, J. J. J. Staunton, D. E. Williamson, R. L. Hilllard
Publikováno v:
Applied Optics. 32:4678
An IR photodetector including an IR semiconductor detector with conductive layers on opposite, parallel surfaces. A semiconductor substrate supports the semiconductor IR detector. A circuit is connected across the semiconductor IR detector to provide
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::92d869c1a7c4fe8f6b0ccd42147808d0
https://doi.org/10.1364/ao.32.004678
https://doi.org/10.1364/ao.32.004678
Autor:
P. Wakeling, A. Mann, R. Prescott, R. Kingslake, R. L. Hilliard, W. Vaughan, D. C. Gilkeson, W. J. Tomlinson, D. L. Sullivan, J. J. J. Staunton, G. L. Mitchell, W. H. Lee, S. F. Jacobs, L. S. Sadovnik, A. Brunsting, D. C. Leiner, I. J. Abramovitz, M. Handschy, P. M. Kuhn, R. Asthelmer, J. A. Decker, B. J. Howell, E. Loewen, H. Miranda, S. K. Tchejeyan, D. E. Williamson
Publikováno v:
Applied Optics. 32:4112
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9241f1e6611e7592f1216db6ddd9a81d
https://doi.org/10.1364/ao.32.004112
https://doi.org/10.1364/ao.32.004112
Autor:
L. S. Sadovnik, I. J. Abramovitz, B. J. Howell, A. Brunsting, R. Asthelmer, M. Handschy, J. J. J. Staunton, A. Mann, D. C. Gilkeson, S. F. Jacobs, H. J. Caulfield, W. Vaughan, G. L. Mitchell, D. E. Williamson, R. Prescott, D. L. Sullivan, W. J. Tomlinson, P. R. Wakeling, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. H. Lee, H. Miranda, R. L. Hilliard, S. K. Tchejeyan, E. Loewen, J. A. Decker, Rudolf Kingslake
Publikováno v:
Applied Optics. 32:363
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6a3656d91be5c0759919a6c6a84c142
https://doi.org/10.1364/ao.32.000363
https://doi.org/10.1364/ao.32.000363
Autor:
R. L. Hilliard, S. K. Tchejeyan, D. C. Gilkeson, D. E. Williamson, E. Laewen, R. Prescott, S. F. Jacobs, W. Vaughan, P. Wakeling, A. Mann, W. J. Tomlinson, D. C. Leiner, B. J. Howell, D. L. Sullivan, H. Miranda, J. J. J. Staunton, P. M. Kuhn, L. S. Sadovnik, A. Brunsting, R. Kingslake, W. H. Lee, J. A. Decker, M. Handschy, H. J. Caulfield, R. Asthelmer, G. L. Mitchell, I. J. Abramovitz
Publikováno v:
Applied Optics. 31:1356
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a22605fdf9eaa304ca88da29bb15720b
https://doi.org/10.1364/ao.31.001356
https://doi.org/10.1364/ao.31.001356
Autor:
M. Handschy, H. Miranda, H. J. Caulfield, E. Loewen, B. J. Howell, J. J. J. Staunton, W. J. Tomlinson, A. Mann, D. L. Sullivan, R. Kingslake, R. Asthelmer, J. A. Decker, R. L. Hilliard, S. K. Tchejeyan, G. L. Mitchell, W. Vaughan, I. J. Abramovitz, D. C. Gilkeson, D. E. Williamson, R. Prescott, A. Brunsting, S. F. Jacobs, W. H. Lee, L. S. Sadovnik, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, P. Wakeling
Publikováno v:
Applied Optics. 31:690
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2be4d285f1d2035f7e1b9927d0cfd379
https://doi.org/10.1364/ao.31.000690
https://doi.org/10.1364/ao.31.000690