Zobrazeno 1 - 10
of 67
pro vyhledávání: '"R. Arinero"'
Publikováno v:
AIP Advances, Vol 6, Iss 3, Pp 035318-035318-8 (2016)
Electrostatic force spectroscopy (EFS) operated in a conventional force gradient detection method allows determining local surface charges in epoxy samples. This is made possible through a detailed analysis of gradient versus DC voltage curves. The p
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/918fa131dca74d8eb6bcd10df53a8808
Autor:
C. Villeneuve-Faure, N. Lahoud Dignat, B. Lantin, R. Arinero, M. Ramonda, M. Semsarilar, M. Bechelany, S. Le Roy, J. Castellon
Publikováno v:
2022 IEEE 4th International Conference on Dielectrics (ICD).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7277aa4e6e22211f5ac96d2814387091
https://doi.org/10.1109/icd53806.2022.9863479
https://doi.org/10.1109/icd53806.2022.9863479
Autor:
C. Villeneuve-Faure, N. Lahoud Dignat, B. Lantin, R. Arinero, M. Ramonda, M. Semsarilar, M. Bechelany, S. Le Roy, J. Castellon
Designing a new electrical insulating nanocomposite with chosen nanoparticles and matrix while targeting specific dielectric properties is still the Holy Grail in the domain of electrical engineering. The main challenge remains to understand the phys
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::28b4a568abfe5d9e1a92bde964135b72
https://hal.science/hal-03765822
https://hal.science/hal-03765822
Publikováno v:
Integrated Ferroelectrics
Integrated Ferroelectrics, 2008, 98 (1), pp.161-170. ⟨10.1080/10584580802093496⟩
Integrated Ferroelectrics, Taylor & Francis, 2008, 98 (1), pp.161-170. ⟨10.1080/10584580802093496⟩
Integrated Ferroelectrics, 2008, 98 (1), pp.161-170. ⟨10.1080/10584580802093496⟩
Integrated Ferroelectrics, Taylor & Francis, 2008, 98 (1), pp.161-170. ⟨10.1080/10584580802093496⟩
This paper describes the growth conditions and the structural characterization of thin films PbTiO3 elaborated by a mixed reactive thermal co-evaporation. In a same chamber, in oxygen atmosphere, the titanium source is deposited by electron beam evap
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d2450042035d20d851cdf6e5b05577ab
https://doi.org/10.1080/10584580802093496
https://doi.org/10.1080/10584580802093496
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.