Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"R, Ajjel."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microelectronics Journal. 37:1404-1407
We report on electrical studies preformed on GaAs-Al"0"."4"6Ga"0"."5"4As superlattice (SL) with a wider quantum well (QW) embedded in the middle of the structure. We perform capacitance-voltage (C-V) and deep-level transient spectroscopy (DLTS) measu
Publikováno v:
Semiconductor Science and Technology
Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2005, 20 (6), pp.514-518. ⟨10.1088/0268-1242/20/6/006⟩
Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2005, 20 (6), pp.514-518. ⟨10.1088/0268-1242/20/6/006⟩
Capacitance– and reverse current–voltage (C–V) measurements have been performed on a Schottky barrier structure incorporating InAs quantum dots (QDs) embedded in n-type InAlAs matrix. The electron confined energy level positions in the QDs have
Publikováno v:
Materials Science in Semiconductor Processing
Materials Science in Semiconductor Processing, Elsevier, 2014, 26 (1), pp. 431-437
Materials Science in Semiconductor Processing, 2014, 26 (1), pp. 431-437
Materials Science in Semiconductor Processing, Elsevier, 2014, 26 (1), pp. 431-437
Materials Science in Semiconductor Processing, 2014, 26 (1), pp. 431-437
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::86318faf87570dd5e192d9bf9d491f8c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01848728
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01848728