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Autor:
Quispe, Raul Dario Chipana
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSUniversidade Federal do Rio Grande do SulUFRGS.
A redução na escala dos semicondutores tem aumentado a suceptibilidade de componentes eletrônicos a radiação. Single event transient (SET) afeta cada vez mais os circuitos integrados. Os efeitos da radiação podem afetar as redes de relógio do
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10183/114809
