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pro vyhledávání: '"Quintero Vásquez, Fernando José"'
Los perfilómetros son instrumentos utilizados comúnmente en tareas de metrología superficial, al permitir la medición de parámetros y características existentes en la superficie de cualquier objeto, como su rugosidad, ondulación, perfil, altur
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______9623::c9ebd272bda0c0141a494514c2ee9051
https://hdl.handle.net/20.500.12585/11701
https://hdl.handle.net/20.500.12585/11701
