Zobrazeno 1 - 10
of 67
pro vyhledávání: '"Qian, Chenhao"'
Autor:
Yang, Jifan, Yang, Yuxuan, Long, Fei, Li, Xuan, Sun, Fei, Qian, Chenhao, Yan, Xinyu, Zhou, Tong, Liu, Lei
Publikováno v:
In Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects 20 November 2024 703 Part 1
Autor:
Su, Jun *, Chandross-Cohen, Tyler *, Qian, Chenhao, Carroll, Laura, Kimble, Kayla, Yount, Mackenna, Wiedmann, Martin, Kovac, Jasna †
Publikováno v:
In Journal of Dairy Science October 2024 107(10):7631-7647
Publikováno v:
In Journal of Food Protection September 2024 87(9)
Autor:
Qian, Chenhao1 (AUTHOR), Feng, Taojun2 (AUTHOR), Li, Zhiyuan2 (AUTHOR), Ye, Yanjun1 (AUTHOR), Yang, Shengwen1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Journal of Advanced Transportation. 5/2/2024, Vol. 2024, p1-15. 15p.
Autor:
Hickey, Danielle Reifsnyder, Nayir, Nadire, Chubarov, Mikhail, Choudhury, Tanushree H., Bachu, Saiphaneendra, Miao, Leixin, Wang, Yuanxi, Qian, Chenhao, Crespi, Vincent H., Redwing, Joan M., van Duin, Adri C. T., Alem, Nasim
Engineering atomic-scale defects is crucial for realizing wafer-scale, single-crystalline transition metal dichalcogenide monolayers for electronic devices. However, connecting atomic-scale defects to larger morphologies poses a significant challenge
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2006.11668
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Results in Physics June 2018 9:1585-1593