Zobrazeno 1 - 10
of 76
pro vyhledávání: '"QCAPro"'
Rotated majority gate-based 2n-bit full adder design in quantum-dot cellular automata nanotechnology
Publikováno v:
Circuit World, 2021, Vol. 48, Issue 1, pp. 48-63.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/CW-06-2020-0120
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Md. Abdullah-Al-Shafi, Ali Newaz Bahar, Peer Zahoor Ahmad, Firdous Ahmad, Mohammad Maksudur Rahman Bhuiyan, Kawsar Ahmed
Publikováno v:
Data in Brief, Vol 11, Iss C, Pp 593-596 (2017)
Power consumption in irreversible QCA logic circuits is a vital and a major issue; however in the practical cases, this focus is mostly omitted.The complete power depletion dataset of different QCA multiplexers have been worked out in this paper. At
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/860d822cc9394aac985900fe1225de79
Publikováno v:
Data in Brief, Vol 10, Iss C, Pp 557-560 (2017)
This paper presents an energy dissipation dataset of different reversible logic gates in quantum-dot cellular automata. The proposed circuits have been designed and verified using QCADesigner simulator. Besides, the energy dissipation has been calcul
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6c55328b40624b18b88a97a402931bd0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Md. Abdullah-Al-Shafi, Ali Newaz Bahar
Publikováno v:
Cogent Engineering, Vol 4, Iss 1 (2017)
By the gradual increasing of the attribute size and energy utilization in VLSI chips the component of energy depleted owing to information forfeiture in irreversible valuations will turn into a crucial drawback in the future. Nano components, particu
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4e634726cc9846d69e773682e818daa9
Publikováno v:
Cogent Engineering, Vol 4, Iss 1 (2017)
The current monolithic integrated circuits revolution has been growing over past few decades, but the VLSI industry faces problems in the domain of short channel effect, device density, and scaling along with power consumption. Hence research is a ne
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/afa7e71ef39744c9ad154f61d1c7ce1f
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.