Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Q.Z. Cong"'
Publikováno v:
Thin Solid Films. 213:13-18
A conventional X-ray diffractometer with a sample tilting X-ray diffraction (STD) mode is a useful tool which can better characterize the phase composition of films from 100 A to a few micrometers thick with random or preferred orientations. In this
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::184a31ba2c699840dc92d3c29db1fdab
https://doi.org/10.1016/0040-6090(92)90468-q
https://doi.org/10.1016/0040-6090(92)90468-q
Publikováno v:
Thin Solid Films. 209:1-8
The composition and structures of r.f.-sputtered MoS2 films have been determined by X-ray diffractometry (XRD), Auger electron spectroscopy (AES), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and laser Raman spectroscopy (LRS). The r.f.-sputtered films wer
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5336b066b78d847e1436cf422180e32a
https://doi.org/10.1016/0040-6090(92)90002-s
https://doi.org/10.1016/0040-6090(92)90002-s
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.