Zobrazeno 1 - 10
of 54
pro vyhledávání: '"Puyoo E"'
Autor:
Grauby, S., Lopez, L. -D. Patino, Salhi, A., Puyoo, E., Rampnoux, J. -M., Claeys, W., Dilhaire, S.
Publikováno v:
Dans 13th International Worshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems - THERMINIC 2007, Budapest : Hongrie (2007)
We have studied the electrically induced off-plane surface displacement on two microelectronic devices using Scanning Joule Expansion Microscopy (SJEM). We present the experimental method and surface displacement results. We show that they can be suc
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0801.1041
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/14/2017, Vol. 122 Issue 18, p1-5, 5p
Autor:
Guillaume, N., Puyoo, E., Le Berre, M., Albertini, D., Baboux, N., Chevalier, C., Ayadi, K., Grégoire, J., Gautier, B., Calmon, F.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 118 Issue 14, p144502-1-144502-6, 6p, 2 Diagrams, 6 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.