Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Putcha, Vamsi"'
Autor:
Putcha, Vamsi, Franco, Jacopo, Vais, Abhitosh, Kaczer, Ben, Xie, Qi, Maes, Jan Willem, Tang, Fu, Givens, Michael, Collaert, Nadine, Linten, Dimitri, Groeseneken, Guido
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2020 115
Autor:
Yu, Hao, Putcha, Vamsi, Peralagu, Uthayasankaran, Zhao, Ming, Yadav, Sachin, Alian, Alireza, Parvais, Bertrand, Collaert, Nadine
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 1/21/2022, Vol. 131 Issue 3, p1-9, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vais, Abhitosh, Franco, Jacopo, Lin, Dennis, Putcha, Vamsi, Sioncke, Sonja, Mocuta, Anda, Collaert, Nadine, Thean, Aaron, De Meyer, Kristin
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2017, Vol. 121 Issue 14, p1-7, 7p, 1 Diagram, 1 Chart, 10 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Putcha, Vamsi, Franco, Jacopo, Vais, Abhitosh, Sioncke, Sonja, Kaczer, Ben, Linten, Dimitri, Groeseneken, Guido
© 1963-2012 IEEE. Operating temperature has a significant imp-act on the reliability of metal-oxide-semiconductor field effect transistors (MOSFETs). In Si-channel MOSFETs, the effective density of charged oxide defects ( Δ Neff) at operating condi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1131::fcf5dee74ae67461dfa8d246142202ce
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/647514
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/647514
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.