Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Purkayastha, Amrita"'
Autor:
Jardine, Malcolm J. A., Dardzinski, Derek, Yu, Maituo, Purkayastha, Amrita, Chen, A. -H., Chang, Yu-Hao, Engel, Aaron, Strocov, Vladimir N., Hocevar, Moïra, Palmstrøm, Chris J., Frolov, Sergey M., Marom, Noa
Publikováno v:
ACS Appl. Mater. Interfaces 2023
Majorana zero modes, with prospective applications in topological quantum computing, are expected to arise in superconductor/semiconductor interfaces, such as $\beta$-Sn and InSb. However, proximity to the superconductor may also adversely affect the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2301.02879
Publikováno v:
In Journal of Informetrics May 2019 13(2):635-642
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jardine, Malcolm J. A., Dardzinski, Derek, Yu, Maituo, Purkayastha, Amrita, Chen, An-Hsi, Chang, Yu-Hao, Engel, Aaron, Strocov, Vladimir N., Hocevar, Moïra, Palmstrøm, Chris, Frolov, Sergey M., Marom, Noa
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; 6/28/2023, Vol. 15 Issue 25, p31100-31101, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jardine, Malcolm J. A., Dardzinski, Derek, Yu, Maituo, Purkayastha, Amrita, Chen, An-Hsi, Chang, Yu-Hao, Engel, Aaron, Strocov, Vladimir N., Hocevar, Moïra, Palmstro̷m, Chris, Frolov, Sergey M., Marom, Noa
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; 20230101, Issue: Preprints