Výsledky vyhledávání - "Prifti, T."

Akademický článek

Impact of the forming conditions and electrode metals on read disturb in HfO2-based RRAM

Autor: Lorenzi, P., Rao, R., Prifti, T., Irrera, F.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability September-November 2013 53(9-11):1203-1207

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Impact of the forming conditions and electrode metals on read disturb in HfO2-based RRAM.

Autor: Lorenzi, P.¹ lorenzi@die.uniroma1.it, Rao, R.¹, Prifti, T.¹, Irrera, F.¹

Publikováno v: Microelectronics Reliability. Sep2013, Vol. 53 Issue 9-11, p1203-1207. 5p.

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.