Výsledky vyhledávání - "Pravossoudovitch, S."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Pravossoudovitch, S."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 371 pro vyhledávání: '"Pravossoudovitch, S."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 7 7

Conference

Multiple-Cell-Upsets on a commercial 90nm SRAM in dynamic mode.

Autor: Tsiligiannis, G., Dilillo, L., Bosio, A., Girard, P., Pravossoudovitch, S., Todri, A., Virazel, A., Frost, C., Wrobel, F., Saigne, F.

Publikováno v: 2013 14th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2013, p1-4, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

SEU monitoring in mixed-field radiation environments of particle accelerators.

Autor: Tsiligiannis, G., Dilillo, L., Bosio, A., Girard, P., Pravossoudovitch, S., Todri, A., Virazel, A., Mekki, J., Brugger, M., Wrobel, F., Saigne, F.

Publikováno v: 2013 14th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2013, p1-4, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Worst-case power supply noise and temperature distribution analysis for 3D PDNs with multiple clock domains.

Autor: Todri-Sanial, A., Bosio, A., Dilillo, L., Girard, P., Pravossoudovitch, S., Virazel, A.

Publikováno v: 2013 IEEE 11th International New Circuits & Systems Conference (NEWCAS); 2013, p1-4, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

Characterization of an SRAM based particle detector for mixed-field radiation environments.

Autor: Tsiligiannis, G., Dilillo, L., Bosio, A., Girard, P., Pravossoudovitch, S., Todri-Sanial, A., Virazel, A., Mekki, J., Brugger, M., Vaille, J-R., Wrobel, F., Saigne, F.

Publikováno v: 5th IEEE International Workshop on Advances in Sensors & Interfaces IWASI; 2013, p75-80, 6p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[38]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

264 Konferenční materiály
98 Akademické články
14 Časopisy
6 Knihy

24 sram
16 fault modeling
11 random access memory
10 neutrons
9 delay fault
9 dynamic faults
7 bist
7 fault tolerance
7 memory testing
7 particle accelerators
7 power consumption
7 seu
6 atmospheric neutrons
6 computer architecture
6 embedded flash
6 monitor
6 neutron irradiation
5 90 nm
5 circuit testing
5 coupling effect
5 dft
5 dynamic mode
5 field programmable gate arrays
5 isotropy
5 random testing
5 real-time
5 single event latchup (sel)
5 testing
4 computer storage devices
4 computer systems
4 delay faults
4 digital circuits
4 fault injection
4 low power testing
4 microprocessor
4 microprocessors
4 multiple cell upsets (mcus)
4 radmon
4 single event transient
4 spice model
3 anisotropy
3 astrophysical radiation
3 background radiation
3 circuit faults
3 circuits
3 delay testing
3 diagnosis
3 electrical model
3 electronic equipment
3 error rates

139 ieee
22 institute of electrical and electronics engineers inc.
17 association for computing machinery
14 springer
9 springer nature
8 ieee computer society
8 institution of engineering & technology
6 publ by ieee
4 kluwer academic publishers
3 ieee-inst electrical electronics engineers inc
3 iee-inst elec eng
3 inst engineering technology-iet
3 institution of engineering and technology
2 association for computing machinery, inc
2 elsevier b.v.
2 elsevier ltd
2 elsevier science bv
2 ieee computer soc
1 american scientific publishers
1 editions hermes
1 elsevier
1 iee
1 institute of physics publishing
1 iop publishing
1 iop publishing ltd
1 kluwer academic publ
1 presses polytechniques et universitaires romandes
1 springer new york llc
1 springer verlag

16 journal of electronic testing
16 journal of electronic testing: theory and applications (jetta)
15 electronics letters
15 ieee transactions on nuclear science
14 journal of electronic testing-theory and applications
14 proceedings of the asian test symposium
14 proceedings of the ieee vlsi test symposium
7 proceedings - international test conference
5 electronics letters (institution of engineering & technology)
5 proceedings - ieee international symposium on circuits and systems
4 ieee design & test of computers
4 ieee international test conference (tc)
4 integration, the vlsi journal
4 proceedings - ieee international symposium on defect and fault tolerance in vlsi systems
4 proceedings of the conference: design, automation & test in europe
3 12th ieee european test symposium (ets'07)
3 2010 15th ieee european test symposium (ets)
3 2010 15th ieee european test symposium, ets'10
3 2011 ieee 14th international symposium on design & diagnostics of electronic circuits & systems (ddecs)
3 dac: annual acm/ieee design automation conference
3 iet computers & digital techniques (institution of engineering & technology)
3 journal of instrumentation
3 proceedings - 12th ieee european test symposium, ets 2007
3 proceedings - design automation conference
3 proceedings -design, automation and test in europe, date
3 proceedings of the 2011 ieee symposium on design and diagnostics of electronic circuits and systems, ddecs 2011
3 proceedings of the european test workshop
2 16th asian test symposium (ats 2007)
2 2008 ieee international test conference
2 2010 19th ieee asian test symposium (ats)
2 2010 ieee international test conference (itc)
2 2011 20th asian test symposium (ats)
2 2011 6th international conference on design & technology of integrated systems in nanoscale era (dtis)
2 2011 ieee international symposium on defect & fault tolerance in vlsi & nanotechnology systems (dft)
2 2013 14th european conference on radiation & its effects on components & systems (radecs)
2 25th ieee vlsi test symposium (vts'07)
2 eighth ieee european test workshop, 2003
2 european design & test conference
2 fifth ieee international symposium on electronic design, test & application, 2010. delta '10
2 ieee transactions on computers
2 iet computers and digital techniques
2 integration : the vlsi journal
2 international conference on design & test of integrated systems in nanoscale technology, 2006. dtis 2006
2 proceedings 1992 ieee international symposium on circuits & systems
2 proceedings ninth ieee european test symposium, 2004 (ets 2004)
2 proceedings of the 29th acm/ieee design automation conference
2 second ieee international workshop on electronic design, test & applications
1 13th asian test symposium
1 cad82: 5th international conference and exhibition on computers in design engineering
1 computer-aided design

161 Scopus®
152 Complementary Index
30 Science Citation Index Expanded
14 Supplemental Index
6 Academic Search Ultimate
4 ScienceDirect
4 Business Source Ultimate

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......