Zobrazeno 1 - 10
of 145
pro vyhledávání: '"Prasciolu, M."'
Autor:
Dresselhaus, J. L., Fleckenstein, H., Domaracky, M., Prasciolu, M., Ivanov, N., Carnis, J., Murray, K. T., Morgan, A. J., Chapman, H. N., Bajt, S.
Improvements in X-ray optics critically depend on the measurement of their optical performance. The knowledge of wavefront aberrations, for example, can be used to improve the fabrication of optical elements or to design phase correctors to compensat
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2203.14378
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Massari, M., Romanato, F., Carli, M., Ongarello, T., Prasciolu, M., Tamburini, F., Mari, E., Bianchini, A., Barbieri, C.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering August 2011 88(8):2675-2678
Autor:
Biasiol, G., Baranwal, V., Heun, S., Prasciolu, M., Tormen, M., Locatelli, A., Mentes, T.O., Niño, M.A., Sorba, L.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 15 May 2011 323(1):176-179
Autor:
Bakeine, G.J., Benedetti, L., Galli, D., Grenci, G., Pozzato, A., Prasciolu, M., Tormen, M., Cusella, G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2010 87(5):830-833
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Murray, K.T., Pedersen, A.F., Mohacsi, I., Detlefs, C., Morgan, A.J., Prasciolu, M., Yildirim, C., Simons, H., Jakobsen, A.C., Chapman, H.N., Poulsen, H.F., Bajt, S.
Publikováno v:
'Optics Express ', vol: 27, pages: 7120-7138 (2019)
X-ray microscopy at photon energies above 15 keV is very attractive for the investigation of atomic and nanoscale properties of technologically relevant structural and bio materials. This method is limited by the quality of X-ray optics. Multilayer L
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=illesrfpubli::e97328c8abba290d5312ddff3569541d
https://epn-library.esrf.fr/flora/jsp/index_view_direct_anonymous.jsp?record=doc:PUB_ESRF:52299
https://epn-library.esrf.fr/flora/jsp/index_view_direct_anonymous.jsp?record=doc:PUB_ESRF:52299
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(4):745-748
Autor:
Bakeine, G.J., Bertolotti, A., Zennaro, C., Grenci, G., Pozzato, A., Zilio, S. Dal, Prasciolu, M., Carraro, M., Businaro, L., Tormen, M., Alessiani, M., Nano, R., Dionigi, P.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(4):1468-1472
Autor:
Prasciolu, M., Tamburini, F., Anzolin, G., Mari, E., Melli, M., Carpentiero, A., Barbieri, C., Romanato, F.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(4):1103-1106