Zobrazeno 1 - 10
of 1 066
pro vyhledávání: '"Pourtois G"'
Publikováno v:
Computational Materials Science 242, 113042, 2024
Advancements in modern semiconductor devices increasingly depend on the utilization of amorphous materials and the reduction of material thickness, pushing the boundaries of their physical capabilities. The mechanical properties of these thin layers
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2405.19873
Publikováno v:
npj Comput Mater 8, 230 (2022)
Two-dimensional (2D) ferromagnetic materials are considered as promising candidates for the future generations of spintronic devices. Yet, 2D materials with intrinsic ferromagnetism are scarce. High-throughput first-principles simulations are perform
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2204.01551
Publikováno v:
In Solid State Electronics April 2024 214
Autor:
Clima, S., Garbin, D., Devulder, W., Keukelier, J., Opsomer, K., Goux, L., Kar, G.S., Pourtois, G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 July 2019 215
Autor:
Beljonne, D., Pourtois, G., Silva, C., Hennebicq, E., Herz, L. M., Friend, R. H., Scholes, G. D., Setayesh, S., Müllen, K., Brédas, J. L.
Publikováno v:
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2002 Aug . 99(17), 10982-10987.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3059508
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alam, Md Nur K, Clima, S., O'Sullivan, B. J., Kaczer, B., Pourtois, G., Heyns, M., Van Houdt, J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2/28/2021, Vol. 129 Issue 8, p1-7, 7p
Publikováno v:
In Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures February 2014 56:416-421
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.