Zobrazeno 1 - 10
of 300
pro vyhledávání: '"Postek, Michael T."'
Modeling artificial scanning electron microscope (SEM) and scanning ion microscope images has recently become important. This is because of the need to provide repeatable images with a priori determined parameters. Modeled artificial images are highl
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1006.0171
In this article, a new scanning electron microscopy (SEM) image composition technique is described, which can significantly reduce drift related image corruptions. Drift-distortion commonly causes blur and distortions in the SEM images. Such corrupti
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0910.0213
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Postek, Michael T.
Publikováno v:
Transactions of the American Microscopical Society, 1978 Oct 01. 97(4), 590-593.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3226175
Autor:
Postek, Michael T., Steffens, W. L.
Publikováno v:
Transactions of the American Microscopical Society, 1979 Oct 01. 98(4), 515-521.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3225901
Autor:
Postek, Michael T.
Publikováno v:
Botanical Gazette, 1981 Mar 01. 142(1), 124-134.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2474793
Autor:
Postek, Michael T., Tucker, Shirley C.
Publikováno v:
Botanical Gazette, 1983 Dec 01. 144(4), 501-512.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2474454
Autor:
Postek, Michael T., Tucker, Shirley C.
Publikováno v:
American Journal of Botany, 1982 Apr 01. 69(4), 556-569.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2443065
Publikováno v:
American Journal of Botany, 1982 Jul 01. 69(6), 904-912.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/2442887
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.