Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"Porti i Pujal, Marc"'
Autor:
Porti i Pujal, Marc
Publikováno v:
TDX (Tesis Doctorals en Xarxa).
La progressiva reducció del gruix de l'òxid de porta (SiO2) en dispositius MOS sense el corresponent escalat en tensions, ha donat lloc a l'aparició de mecanismes de fallada (ruptura forta, HBD; ruptura suau, SBD; ruptura progressiva, PBD; o corre
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10803/5338
Autor:
Porti i Pujal, Marc, Nafría i Maqueda, Montserrat, Aymerich Humet, Xavier, Olbrich, A., Ebersberger, B., American Physical Society
Publikováno v:
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
instname
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
A conductive atomic force microscope has been used to electrically stress and to investigate the effects of degradation in the conduction properties of ultrathin (
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2da3563d33a55282164fc39f449fc411
http://hdl.handle.net/2072/401817
http://hdl.handle.net/2072/401817
Autor:
Iglesias Santiso, Vanessa, Porti i Pujal, Marc, Nafría i Maqueda, Montserrat, Aymerich Humet, Xavier, Dudek, P., Schroeder, T., Bersuker, G., American Physical Society
Publikováno v:
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
instname
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
The relationship between electrical and structural characteristics of polycrystalline HfO2 films has been investigated by conductive atomic force microscopy under ultrahigh vacuum conditions. The results demonstrate that highly conductive and breakdo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6bc7e372e822bc4a636d51e30cf036d0
http://hdl.handle.net/2072/401664
http://hdl.handle.net/2072/401664
Autor:
Porti i Pujal, Marc, Nafría i Maqueda, Montserrat, Blüm, M. C., Aymerich Humet, Xavier, Sadewasser, S., American Physical Society
Publikováno v:
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
instname
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
Atomic-force-microscopy-based techniques have been used to investigate at a nanometer scale the dielectric breakdown (BD) of ultrathin (
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::adc1a461ca835e5061f2fed8f45d01b1
http://hdl.handle.net/2072/401810
http://hdl.handle.net/2072/401810
Autor:
Porti i Pujal, Marc
Publikováno v:
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Universitat Autònoma de Barcelona
Universitat Autònoma de Barcelona
La comunitat científica internacional investiga les possibilitats de substitució de l'òxid de silici, un dels components principals dels dispositius microelectrònics, per altres materials amb millors propietats elèctriques i compatibles amb els
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::03f3b4c38099951dd49f332e7b83c772
https://ddd.uab.cat/record/90305
https://ddd.uab.cat/record/90305
Autor:
Ruiz Flores, Ana
Durant les darreres dècades, els dispositius electrònics han esdevingut essencials per a la nostra societat i es poden trobar al nostre voltant en tots els aspectes de la nostra vida quotidiana. Un exponent paradigmàtic és l'Internet de les Coses
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1404::7a61cd1413af4a52213180c74517a8a3
https://ddd.uab.cat/record/274968
https://ddd.uab.cat/record/274968
Publikováno v:
Recercat: Dipósit de la Recerca de Catalunya
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
Varias* (Consorci de Biblioteques Universitáries de Catalunya, Centre de Serveis Científics i Acadèmics de Catalunya)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
En aquest treball, s'ha dissenyat un mòdul d'acondicionament a fi de millorar les mesures de conductivitat realitzades amb un AFM (Microscopi de Forces Atòmiques). L'equip actual disposa d'un preamplificador de baix soroll amb un guany de 10 10V/A.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::62f294db5d68a2faebcb9d1050e8f08e
http://hdl.handle.net/2072/419757
http://hdl.handle.net/2072/419757
Autor:
Couso Fontanillo, Carlos
Publikováno v:
TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
TDR. Tesis Doctorales en Red
instname
TDR. Tesis Doctorales en Red
instname
En los últimos años, la información y su análisis se han convertido en la piedra angular del crecimiento de nuestra sociedad, permitiendo la economía compartida, la globalización de productos y conocimientos, etc. Grandes compañías como Amazo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c051dd87002bb6492671adf1f27ac3a3
http://hdl.handle.net/10803/650408
http://hdl.handle.net/10803/650408
Autor:
Wu, Qian
Publikováno v:
TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
TDR. Tesis Doctorales en Red
instname
TDR. Tesis Doctorales en Red
instname
El continuo escalado de la tecnología CMOS ha supuesto un gran reto en cuanto a la fiabilidad de dispositivos MOSFET se refiere debido al aumento del campo eléctrico en su interior, el cual ha dado lugar a la aparición de diferentes mecanismos de
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1414812c5d88cadb14d0de0748ade09d
http://hdl.handle.net/10803/402233
http://hdl.handle.net/10803/402233
Autor:
Bayerl, Albin
Publikováno v:
TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
TDR. Tesis Doctorales en Red
instname
TDR. Tesis Doctorales en Red
instname
En el primer capítulo de ésta tesis, se les dará un resumen del transistor MOSFET y de las consecuencias del escalado de dispositivos electrónicos. También se explican las alternativas posibles para permitir mantener dicha tendencia, como la int
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::2c77d83871333b598f905405c23f4448
http://hdl.handle.net/10803/126515
http://hdl.handle.net/10803/126515