Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"Porth, B."'
Autor:
Engelmann, Sebastian U., Wise, Rich S., Feilchenfeld, N. B., Nummy, K., Barwicz, T., Gill, D., Kiewra, E., Leidy, R., Orcutt, J. S., Rosenberg, J., Stricker, A. D., Whiting, C., Ayala, J., Cucci, B., Dang, D., Doan, T., Ghosal, M., Khater, M., McLean, K., Porth, B., Sowinski, Z., Willets, C., Xiong, C., Yu, C., Yum, S., Giewont, K., Green, W. M. J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2017, Vol. 10149 Issue: 1 p101490D-101490D-9, 913420p
Autor:
Gambino, J., Robbins, J., Rutkowski, T., Johnson, C., DeVries, K., Rath, D., Vereecken, P., Walton, E., Porth, B., Wenner, M., McDevitt, T., Chapple-Sokol, J., Luce, S.
Publikováno v:
2008 15th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Gambino, J., Stamper, A., McDevitt, T., McGahay, V., Luce, S., Pricer, T., Porth, B., Senowitz, C., Kontra, R., Gibson, M., Wildman, H., Piper, A., Benson, C., Standaert, T., Biolsi, P., Cooney, E.
Publikováno v:
Proceedings of the 9th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (Cat. No.02TH8614); 2002, p111-117, 7p
Autor:
Wong, J., Weil, J., Whiting, C., Chien Yu, Porth, B., Hart, J., III, Matteson, G., Mochiki, H., Hagihara, M.
Publikováno v:
2001 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (IEEE Cat. No.01CH37160); 2001, p85-94, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1991 Technical Digest; 1991, p839-842, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Feilchenfeld, N. B., Anderson, F. G., Barwicz, T., Chilstedt, S., Ding, Y., Ellis-Monaghan, J., Gill, D. M., Hedges, C., Hofrichter, J., Horst, F., Khater, M., Kiewra, E., Leidy, R., Martin, Y., McLean, K., Nicewicz, M., Orcutt, J. S., Porth, B., Proesel, J., Reinholm, C.
Publikováno v:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 1/1/2015, p1.4-25.7.4, 0p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.