Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"Porter, Christina L."'
Autor:
Tanksalvala, Michael, Porter, Christina L., Esashi, Yuka, Wang, Bin, Jenkins, Nicholas W., Zhang, Zhe, Miley, Galen P., Knobloch, Joshua L., McBennett, Brendan, Horiguchi, Naoto, Yazdi, Sadegh, Zhou, Jihan, Jacobs, Matthew N., Bevis, Charles S., Karl Jr., Robert M., Johnsen, Peter, Ren, David, Waller, Laura, Adams, Daniel E., Cousin, Seth L., Liao, Chen-Ting, Miao, Jianwei, Gerrity, Michael, Kapteyn, Henry C., Murnane, Margaret M.
Publikováno v:
Science Advances 7(5), eabd9667 (2021)
Next-generation nano and quantum devices have increasingly complex 3D structure. As the dimensions of these devices shrink to the nanoscale, their performance is often governed by interface quality or precise chemical or dopant composition. Here we p
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2404.02170
Autor:
Gardner, Dennis F., Tanksalvala, Michael, Shanblatt, Elisabeth R., Zhang, Xiaoshi, Galloway, Benjamin R., Porter, Christina L., Karl Jr., Robert, Bevis, Charles, Adams, Daniel E., Kapteyn, Henry C., Murnane, Margaret M., Mancini, Giulia F.
Publikováno v:
Nature Photonics 11(4), 259 (2017)
Coherent diffractive imaging is unique as the only route for achieving diffraction-limited spatial resolution in the extreme ultraviolet and X-ray regions, limited only by the wavelength of the light. Recently, advances in coherent short wavelength l
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2403.19766
Autor:
Zhang, Bosheng, Gardner, Dennis F., Seaberg, Matthew H., Shanblatt, Elisabeth R., Porter, Christina L., Karl, Jr., Robert, Mancuso, Christopher A., Kapteyn, Henry C., Murnane, Margaret M., Adams, Daniel E.
We demonstrate a new scheme of spectromicroscopy in the extreme ultraviolet (EUV) spectral range, where the spectral response of the sample at different wavelengths is imaged simultaneously. It is enabled by applying ptychographical information multi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1605.09078
Autor:
Shanblatt, Elisabeth R., Porter, Christina L., Gardner, Dennis F., Mancini, Giulia F., Karl Jr., Robert M., Tanksalvala, Michael D., Bevis, Charles S., Vartanian, Victor H., Kapteyn, Henry C., Adams, Daniel E., Murnane, Margaret M.
Characterizing buried layers and interfaces is critical for a host of applications in nanoscience and nano-manufacturing. Here we demonstrate non-invasive, non-destructive imaging of buried interfaces using a tabletop, extreme ultraviolet (EUV), cohe
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1603.01301
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bevis, Charles S., Karl Jr., Robert M., Wang, Bin, Esashi, Yuka, Tanksalvala, Michael, Porter, Christina L., Johnsen, Peter, Adams, Daniel E., Murnane, Margaret M., Kapteyn, Henry C.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 2018, Vol. 10585, p1-4, 4p
Autor:
Porter, Christina L., Tanksalvala, Michael, Gerrity, Michael, Miley, Galen P., Esashi, Yuka, Horiguchi, Naoto, Xiaoshi Zhang, Bevis, Charles S., Karl Jr., Robert, Johnsen, Peter, Adams, Daniel E., Kapteyna, Henry C., Murnanea, Margaret M.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 2018, Vol. 10585, p1-4, 4p