Zobrazeno 1 - 10
of 163
pro vyhledávání: '"Poperenko, L.V."'
Publikováno v:
In Journal of Environmental Radioactivity February 2016 152:85-91
Publikováno v:
In Thin Solid Films 28 February 2011 519(9):2834-2837
Проведено еліпсометричну діагностику зразків поруватого кремнію з різним ступенем поруватості P. Зразки поруватого кремнію зі ступене
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::b137b0660b00338411f7b08a4049f1a3
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/78296
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/78296
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dmytrenko, O.P., Ƙulish, N.P., Belyi, N.M., Prylutskyy, Yu.I., Poperenko, L.V., Stashchuk, V.S., Poroshin, V.G., Pavlenko, E.L., Shlapatskaya, V.V., Bernas, H., Scharff, P.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2006 495(1):365-367
Publikováno v:
In Journal of Magnetism and Magnetic Materials April 2005 290-291 Part 1:562-565
Publikováno v:
In Journal of Magnetism and Magnetic Materials April 2005 290-291 Part 1:640-643
Publikováno v:
Journal of Nano- and Electronic Physics. 13:06033-1
Проведено еліпсометричну діагностику гібридних органічно-неорганічних плівок тіоціанату міді CuSCN зі стільбазолієвим барвником різної
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5d6acc23bb7a4cede22f617bcff71e23
https://doi.org/10.21272/jnep.13(6).06033
https://doi.org/10.21272/jnep.13(6).06033
Publikováno v:
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, Vol 19, Iss 1, Pp 57-61 (2016)
Optical properties and surface structure of graphene films grown on thin 1-μm copper layer using the chemical vapor deposition method were investigated applying spectroscopic ellipsometry and nanoscopic measurements. Angle-variable ellipsometry meas
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a50c2b8d5368f9c28d40dccb54a3f8bb
http://journal-spqeo.org.ua/n1_2016/P057-061abstr.html
http://journal-spqeo.org.ua/n1_2016/P057-061abstr.html
Publikováno v:
In Optical Materials 2003 21(4):765-774