Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Polomoff Nicholas A"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2021 IEEE 71st Electronic Components and Technology Conference (ECTC).
An experimental correlation showing flipchip packaged larger dies more susceptible to corner delamination is, first, established in this work. Chamfer structures have been inserted into the architecture of traditional orthogonal crackstop designs wit
Autor:
Mohamed A. Rabie, Polomoff Nicholas A
Publikováno v:
2021 IEEE 71st Electronic Components and Technology Conference (ECTC).
With the advancement of circuit generations, architectures and technology nodes progressing to smaller and smaller transistor sizes; a decrease in the thickness of the BEoL layers of these integrated circuits (IC) is also occurring. In addition, matu
Autor:
Khaled Hassan, Victoria L. Calero-DdelC, Michael Thiele, Danielle Degraw, Polomoff Nicholas A, El Mehdi Bazizi, Michael Hecker, Mohamed A. Rabie
Publikováno v:
2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC).
Crackstops play an important role in protecting the IC prime from moisture ingress as well as impinging cracks. The introduction of thinner BEoL dielectric layers and ULK materials in advanced CMOS technology resulted in more vulnerable crackstop str
Autor:
Polomoff, Nicholas A.1, Premnath, Ramesh Nath1,2, Bosse, James L.1, Huey, Bryan D.1 bhuey@ims.uconn.edu
Publikováno v:
Journal of Materials Science. Oct2009, Vol. 44 Issue 19, p5189-5196. 8p. 1 Color Photograph, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 8 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 8/18/2008, Vol. 93 Issue 7, p072905, 3p, 1 Color Photograph, 2 Graphs