Zobrazeno 1 - 10
of 216
pro vyhledávání: '"Poenar, D."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2011 51(3):536-542
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S Iliescu F; School of Applied Science, Republic Polytechnic, Singapore., Sim WJ; Department of Biochemistry, Yong Loo Lin School of Medicine, National University of Singapore, Singapore.; NUS Synthetic Biology for Clinical and Technological Innovation (SynCTI), National University of Singapore, Singapore., Heidari H; Department of Mechanical Engineering, University of California, Berkeley, CA, USA., P Poenar D; VALENS-Centre for Bio Devices and Signal Analysis, Nanyang Technological University, Singapore., Miao J; School of Mechanical and Aerospace Engineering, Nanyang Technological University, Singapore., Taylor HK; Department of Mechanical Engineering, University of California, Berkeley, CA, USA., Iliescu C; Biomedical Institute for Global Health Research & Technology (BIGHEART), National University of Singapore, Singapore.
Publikováno v:
Electrophoresis [Electrophoresis] 2019 May; Vol. 40 (10), pp. 1457-1477. Date of Electronic Publication: 2019 Jan 31.
Autor:
French, P.J., van Drieenhuizen, B.P., Poenar, D., Goosen, J.F.L., Mallee, R., Sarro, P.M., Wolffenbuttel, R.F.
Publikováno v:
Journal of Microelectromechanical Systems, 5 (3)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::3d6b2191f0621f7f89ec9c945a3c3c4d
http://resolver.tudelft.nl/uuid:3bf21b64-25c2-40cd-a49c-a1f7f4d5cc98
http://resolver.tudelft.nl/uuid:3bf21b64-25c2-40cd-a49c-a1f7f4d5cc98
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2012 19th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 1/ 1/2012, p1-6, 6p
Publikováno v:
Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005 (IPFA 2005); 2005, p200-204, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.