Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Pivot, Odran"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Esteves, Josué, Pivot, Odran, Ribouton, Julien, Jalade, Patrice, Zouaoui, Abdelaali, Desbat, Laurent, Rit, Simon, Blanc, Frédéric, Haefeli, Guido, Hopchev, Plamen, Galvan, Jean‐Marc, Lu, Guo‐Neng, Pittet, Patrick
Publikováno v:
Medical Physics; Jan2023, Vol. 50 Issue 1, p619-632, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pivot, Odran
Publikováno v:
Signal and Image processing. Université de Lyon, 2019. English. ⟨NNT : 2019LYSEI102⟩
Scattered radiation is a major cause of bias, loss of contrast and artifacts in x-ray computed tomography (CT). Many correction methods have been proposed for conventional CT (using energy-integrating detectors) but it is still an open research topic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::77a4bd485ba87fba6c935055a9623120
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02902108/file/these.pdf
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02902108/file/these.pdf
Autor:
Pivot, Odran
Publikováno v:
Signal and Image processing. Université de Lyon, 2019. English. ⟨NNT : 2019LYSEI102⟩
Scattered radiation is a major cause of bias, loss of contrast and artifacts in x-ray computed tomography (CT). Many correction methods have been proposed for conventional CT (using energy-integrating detectors) but it is still an open research topic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::77a4bd485ba87fba6c935055a9623120
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02902108/file/these.pdf
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02902108/file/these.pdf
Autor:
Ducros, Nicolas, Pivot, Odran, Dupont, Mathieu, Létang, Jean Michel, Rit, Simon, Abascal, Juan F P J, Morel, Christian, Boursier, Yannick, Peyrin, Françoise
Publikováno v:
2ème congrès national d'imagerie du vivant CNIV 2017
2ème congrès national d'imagerie du vivant CNIV 2017, Nov 2017, Paris, France. 2017
2ème congrès national d'imagerie du vivant CNIV 2017, Nov 2017, Paris, France. 2017
International audience; Introduction : Le scanner X spectral est une évolution du scanner X conventionnel permettant de reconstruire en 3D la concentration des matériaux constituant l’objet imagé. Actuellement, seuls quelques prototypes pré cli
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::9544e3702af1ff230854950a9c80210e
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01744888
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01744888
Autor:
Ducros, Nicolas, Pivot, Odran, M., Dupont, Kochebina, Olga, Létang, Jean Michel, Rit, Simon, Abascal, Juan F P J, PEYRIN, Françoise, Morel, Christian, Boursier, Yannick
Publikováno v:
IEEE NSS MIC RTSD 2017 Conference
IEEE NSS MIC RTSD 2017 Conference, Oct 2017, Atlanta, United States. pp.#2987, 2017
IEEE NSS MIC RTSD 2017 Conference, Oct 2017, Atlanta, United States. pp.#2987, 2017
International audience; The advent of hybrid pixels, a technological breakthrough that makes possible to capture spectral information in X-ray tomography, paves the way to material decomposition and quantification. In this paper, a two-material decom
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1c9152d56cacf4335c451ab29fee7435
https://hal.science/hal-01743323
https://hal.science/hal-01743323