Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Pirro, Luca"'
Autor:
Sk, Masud Rana, Pande, Shubham, Müller, Franz, Raffel, Yannick, Lederer, Maximilian, Pirro, Luca, Beyer, Sven, Seidel, Konrad, Kämpfe, Thomas, De, Sourav, Chakrabarti, Bhaswar
Publikováno v:
In Memories - Materials, Devices, Circuits and Systems July 2023 4
Autor:
Raffel, Yannick, Müller, Franz, Thunder, Sunanda, Sk, Masud Rana, Lederer, Maximilian, Pirro, Luca, Beyer, Sven, Seidel, Konrad, Chakrabarti, Bhaswar, Kämpfe, Thomas, De, Sourav
Publikováno v:
In Memories - Materials, Devices, Circuits and Systems July 2023 4
Resistance Through Space : A Comparative Study of Narrative and Space in Naked Lunch and On the Road
Autor:
Pirro, Luca
This essay compares two influential novels from the Beat era, William Burroughs’ Naked Lunch and Jack Kerouac’s On the Road, and how they use the spatial dimension of writing as a tool for resistance. The spatiality of Kerouac’s travel narrativ
Externí odkaz:
http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:su:diva-138262
Autor:
Pirro, Luca
Les substrats Silicium-sur-Isolant (SOI) représentent la meilleure solution pour obtenir des dispositifs microélectroniques ayant de hautes performances. Des méthodes de caractérisation électrique sont nécessaires pour contrôler la qualité SO
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2015GREAT096/document
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Raffel, Yannick, De, Sourav, Lederer, Maximilian, Olivo, Ricardo Revello, Hoffmann, Raik, Thunder, Sunanda, Pirro, Luca, Beyer, Sven, Chohan, Talha, Kämpfe, Thomas, Seidel, Konrad, Heitmann, Johannes
Publikováno v:
ACS Applied Electronic Materials
Autor:
Raffel, Yannick, De, Sourav, Lederer, Maximilian, Olivo, Ricardo Revello, Hoffmann, Raik, Thunder, Sunanda, Pirro, Luca, Beyer, Sven, Chohan, Talha, Kämpfe, Thomas, Seidel, Konrad, Heitmann, Johannes
Publikováno v:
ACS Applied Electronic Materials; 11/22/2022, Vol. 4 Issue 11, p5292-5300, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.