Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Pirée, Hugo"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Piot, Jan, Qian, Jun, Pirée, Hugo, Kotte, Gerard, Pétry, Jasmine, Kruth, Jean-Pierre, Vanherck, Paul, Van Haesendonck, Chris, Reynaerts, Dominiek
ispartof: Workshop on metrological atomic force microscope instrumentation ispartof: Workshop on metrological Atomic location:Trappes, Paris status: published
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1131::b1bf338bce5994e8a2af9d1784e842e7
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/297200
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/297200
Autor:
Piot, Jan, Qian, Jun, Pirée, Hugo, Kotte, Gerard, Petry, Jasmine, Kruth, Jean-Pierre, Van Haesendonck, Chris, Reynaerts, Dominiek
In order to obtain the high accuracy required for a metrological atomic force microscope, the sample approach mechanism meets strict specifications. The design presented in this paper offers a stiff construction, which limits the influences of floor
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1131::9153364cc135716cb86b97cf60b34dfd
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/319346
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/319346
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.