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pro vyhledávání: '"Pinel, Jacques"'
Autor:
Racca, Giuseppe D, Laureijs, Rene, Stagnaro, Luca, Salvignol, Jean Christophe, Alvarez, Jose Lorenzo, Criado, Gonzalo Saavedra, Venancio, Luis Gaspar, Short, Alex, Strada, Paolo, Boenke, Tobias, Colombo, Cyril, Calvi, Adriano, Maiorano, Elena, Piersanti, Osvaldo, Prezelus, Sylvain, Rosato, Pierluigi, Pinel, Jacques, Rozemeijer, Hans, Lesna, Valentina, Musi, Paolo, Sias, Marco, Anselmi, Alberto, Cazaubiel, Vincent, Vaillon, Ludovic, Mellier, Yannick, Amiaux, Jerome, Berthe, Michel, Sauvage, Marc, Azzollini, Ruyman, Cropper, Mark, Pottinger, Sabrina, Jahnke, Knud, Ealet, Anne, Maciaszek, Thierry, Pasian, Fabio, Zacchei, Andrea, Scaramella, Roberto, Hoar, John, Kohley, Ralf, Vavrek, Roland, Rudolph, Andreas, Schmidt, Micha
Euclid is a space-based optical/near-infrared survey mission of the European Space Agency (ESA) to investigate the nature of dark energy, dark matter and gravity by observing the geometry of the Universe and on the formation of structures over cosmol
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1610.05508
Autor:
Pinel, Jacques
Th. univ.--Phys. nucl.--Paris 11--Orsay, 1982. N°: 268.
Externí odkaz:
http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb360968283
Autor:
Pinel, Jacques
Th.--Sci. phys.--Rennes 1, 1977. N°: 261.
Extr. en partie de Solid state communications, 9, 1971, 725-727 ; de Revue de physique appliquée, 6, 1971, 555-557 et de Journal of physics. E. Scientific instruments, 4, 1971, 857-859 ; 6, 1973, 631-
Extr. en partie de Solid state communications, 9, 1971, 725-727 ; de Revue de physique appliquée, 6, 1971, 555-557 et de Journal of physics. E. Scientific instruments, 4, 1971, 857-859 ; 6, 1973, 631-
Externí odkaz:
http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb360679656
Publikováno v:
France, N° de brevet: WO2009000747. 2008
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::230373cd4ad84ead1033247b6894cda9
https://hal.science/hal-00360916
https://hal.science/hal-00360916
Publikováno v:
LPSD 2007 "Laser Processing for Semiconductor Device: Science and Technology"
LPSD 2007 "Laser Processing for Semiconductor Device: Science and Technology", Oct 2007, Saint-Malo, France
LPSD 2007 "Laser Processing for Semiconductor Device: Science and Technology", Oct 2007, Saint-Malo, France
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::02fac6ccab55836f259e58169c1b8b25
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00403019
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00403019
Autor:
Castel, Xavier, Legeay, Gérard, Le Guillerm, Tual, Pinel, Jacques, Rmili, Hatem, Floc'h, Jean Marie, Sauleau, Ronan, Himdi, Mohamed
Publikováno v:
Colloque ITS "Systèmes de Transports Intelligents" 3ème édition 15-16 juin 2006
Colloque ITS "Systèmes de Transports Intelligents" 3ème édition 15-16 juin 2006, 2006, Saint-Brieuc, France
Colloque ITS "Systèmes de Transports Intelligents" 3ème édition 15-16 juin 2006, 2006, Saint-Brieuc, France
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::98394989a146c0ec18a4bbefaa44997c
https://hal.science/hal-00097113
https://hal.science/hal-00097113
Publikováno v:
2èmes Journées ITS "Systèmes de Transports Intelligents" poster
2èmes Journées ITS "Systèmes de Transports Intelligents" poster, Jun 2004, Saint Brieuc, France
2èmes Journées ITS "Systèmes de Transports Intelligents" poster, Jun 2004, Saint Brieuc, France
National audience
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d4bedc46a3f6d0088c8271953ce9393b
https://hal.science/hal-00906388
https://hal.science/hal-00906388
Publikováno v:
8èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux
8èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Mar 2004, La Rochelle, France. 4 p
8èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Mar 2004, La Rochelle, France. 4 p
National audience
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5967235701dcbf08c0d24e650c99b46c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00906383
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00906383
Publikováno v:
Applied Surface Science
Applied Surface Science, 2003, 205, pp.65-79
Applied Surface Science, Elsevier, 2003, 205, pp.65-79
Applied Surface Science, 2003, 205, pp.65-79
Applied Surface Science, Elsevier, 2003, 205, pp.65-79
International audience
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::194c8321795ac5e4e5f2bb0788906b9c
https://hal.science/hal-00912991
https://hal.science/hal-00912991
Publikováno v:
Journées de caractérisation Micro-ondes et Matériaux
Journées de caractérisation Micro-ondes et Matériaux, Mar 2002, Toulouse, France
Journées de caractérisation Micro-ondes et Matériaux, Mar 2002, Toulouse, France
National audience
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::b65c824c3d88e9e6822a0448de0bf521
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00960571
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00960571