Zobrazeno 1 - 10
of 756
pro vyhledávání: '"Pilz, W."'
Autor:
Hollenbach, M., Klingner, N., Mazarov, P., Pilz, W., Nadzeyka, A., Mayer, F., Abrosimov, N. V., Bischoff, L., Hlawacek, G., Helm, M., Astakhov, G. V.
Carbon implantation at the nanoscale is highly desired for the engineering of defect-based qubits in a variety of materials, including silicon, diamond, SiC and hBN. However, the lack of focused carbon ion beams does not allow for the full disclosure
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2404.19592
Autor:
Friedrich, J., Pilz, W.
Publikováno v:
Zeitschrift für Physikalische Chemie; January 2024, Vol. 238 Issue: 1 p257-261, 5p
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 August 2014 310:154-157
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Laryngology & Otology; Jul2023, Vol. 137 Issue 7, p775-781, 7p
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2012 272:198-201
Publikováno v:
RAISIN Workshop 2022, 05.-08.09.2022, London, Großbritanien
Most approaches to implant single or few ions for quantum applications require the use of focused ion beams (FIB). In addition to the detection of ion implantation and laterally precise placement, the first consideration should also be the species as
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::1376de3be3ea62fcf01590f0e78387c9
https://www.hzdr.de/publications/Publ-36187-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-36187-1
Autor:
Machalett, F., Ying, B., Wustelt, P., Bischoff, L., Klingner, N., Pilz, W., Kübel, M., Sayler, A. M., Stöhlker, T., Paulus, G. G.
Publikováno v:
Jahresbericht Helmholtz-Institut Jena 2021, Jena: Helmholtz-Institut Jena, Fröbelstieg, 2022, 60-60
We have successfully employed high-brightness liquid metal ion sources (LMIS) for the investigation of the interaction of metal and metalloid ions with strong field laser beams. The gold and silicon ions, generated in the LMIS by electrostatic field
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::cfbf849ee5727b980d56afc97617e478
https://www.hzdr.de/publications/Publ-34427-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-34427-1
Autor:
Klingner, N., Heinig, K.-H., Tucholski, D., Möller, W., Hübner, R., Bischoff, L., Pilz, W., Hlawacek, G., Facsko, S.
Publikováno v:
22nd International Conference on Ion Beam Modification of Materials IBMM2022, 10.-15.07.2022, Lisbon, Portugal
Broad ion beams have shown their wide applications for materials modification. Focused ion beams can be used in a similar way while simultaneously providing process monitoring. Here, we demonstrate this on a new kind of ion-induced structural evoluti
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::8ea13945f89ed6df8917f2934f41edc3
https://www.hzdr.de/publications/Publ-36186-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-36186-1