Zobrazeno 1 - 10 of 15 pro vyhledávání: '"Pikus, Fedor G."'
4
Conference
Advanced multi-patterning and hybrid lithography techniques.
Autor: Pikus, Fedor G, Torres, Andres
Publikováno v: 2016 21st Asia & South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC); 2016, p611-616, 6p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Decomposition technologies for advanced nodes.
Autor: Pikus, Fedor G
Publikováno v: 2016 17th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED); 2016, p284-288, 5p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
Rapid layout pattern classification.
Autor: Wuu, Jen-Yi, Pikus, Fedor G., Torres, Andres, Marek-Sadowska, Malgorzata
Publikováno v: Proceedings of the 16th Asia & South Pacific Design Automation Conference; 1/25/2011, p781-786, 6p
Zobrazit plný text záznamu
7
Conference
High performance lithographic hotspot detection using hierarchically refined machine learning.
Autor: Ding, Duo, Torres, Andres J., Pikus, Fedor G., Pan, David Z.
Publikováno v: Proceedings of the 16th Asia & South Pacific Design Automation Conference; 1/25/2011, p775-780, 6p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
Challenges for the 28nm half node: Is the optical shrink dead?
Autor: Torres, J. Andres, Otto, Oberdan, Pikus, Fedor G.
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 3, Issue 1, p74882A-74882A-7, 7p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Detecting context sensitive hot spots in standard cell libraries.
Autor: Wuu, Jen-Yi, Pikus, Fedor G., Torres, Andres, Marek-Sadowska, Malgorzata
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov2009, Issue 1, p727515-727515-9, 9p
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Non-uniform yield optimization for integrated circuit layout considering global interactions.
Autor: Torres, J. Andres, Pikus, Fedor G.
Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov2008 Part 2, Issue 1, p71223R-71223R-8, 8p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje