Zobrazeno 1 - 10
of 106
pro vyhledávání: '"Piat, Nadine"'
Autor:
Beb, Mayra Yucely, Tadjouddine, Yanis, Boucheny, Alexandre, Lehmann, Olivier, Rauch, Jean-Yves, Dembélé, Sounkalo, Piat, Nadine, Thibaud, Sébastien
Publikováno v:
In Precision Engineering June 2024 88:516-526
Autor:
Piranda, Benoît, Laurent, Guillaume J., Bourgeois, Julien, Clévy, Cédric, Möbes, Sebastian, Fort-Piat, Nadine Le
Publikováno v:
In Mechatronics October 2013 23(7):906-915
Publikováno v:
In Mechatronics September 2012 22(6):852-861
Autor:
Beb Caal, Mayra Yucely, Bekel, Akkiz, Dembele, Sounkalo, Rougeot, Patrick, Jouffroy-Bapicot, Isabelle, Lebas, Louis-Marie, Langlois, Cyril, Roiban, Lucian, Fellah, Clémentine, Piat, Nadine, Thibaud, Sébastien, Cuny, Gilles, Masenelli-Varlot, Karine
Publikováno v:
International Symposium on Optomechatronic Technology
International Symposium on Optomechatronic Technology, Nov 2021, Besançon, France
International Symposium on Optomechatronic Technology, Nov 2021, Besançon, France
International audience; A three-dimensional model of small size samples enables the development of accurate solutions for their conservation, education, and metrology. Due to its high magnification, the scanning electron microscope can deliver images
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::930c58524eb5dfc3799b6c1cab3a3059
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03456526
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03456526
Autor:
Bekel, Akkiz, Lebas, Louis-Marie, Roiban, Lucian, Langlois, Cyril, Beb Caal, Mayra Yucely, Dembele, Sounkalo, Piat, Nadine, Gaillard, Claire, Lesaint, Bérangère, Masenelli-Varlot, Karine
Publikováno v:
Microscopy and microanalysis
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy, Oct 2021, Paris, France. ⟨10.1017/S1431927621013040⟩
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy, Oct 2021, Paris, France. ⟨10.1017/S1431927621013040⟩
International audience; Cell adhesion is involved in many cellular processes such as proliferation, migration and differentiation. Cell adhesion conditions cell morphology, indeed recent studies have shown that the substrate on which cells are cultur
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7c3533a830d670bea6954cbdfb26a14b
https://doi.org/10.1017/s1431927621013040
https://doi.org/10.1017/s1431927621013040
Publikováno v:
MATEC Web of Conferences, Vol 32, p 05003 (2015)
In this paper, we present a full scale autofocus approach for scanning electron microscope (SEM). The optimal focus (in-focus) position of the microscope is achieved by maximizing the image sharpness using a vision-based closed-loop control scheme. A
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3ebdb42038804049bb38014014ea11ba
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Adouane, Lounis, Fort-Piat, Nadine Le
Publikováno v:
In IFAC Proceedings Volumes 2005 38(1):330-335
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.