Zobrazeno 1 - 10
of 75
pro vyhledávání: '"Piagge, R"'
Thin films of cerium dioxide (CeO2) were deposited by atomic layer deposition (ALD) at 250 {\deg}C on both Si and TiN substrates. The ALD growth produces CeO2 films with polycrystalline cubic phase on both substrates. However, the films show a prefer
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1705.04071
Autor:
Merlo, L., Rossetto, I., Cerati, L., Ghidini, G., Milani, A., Toia, F., Piagge, R., Di Biccari, L., Gevinti, E., Croce, G., Andreini, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Autor:
Ghidini, G., Galbiati, N., Scozzari, C., Sebastiani, A., Piagge, R., Del Vitto, A., Comite, P., Alessandri, M., Tessariol, P., Baldi, I., Moltrasio, E., Mascellino, E.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1182-1185
Autor:
Alessandri, M., Del Vitto, A., Piagge, R., Sebastiani, A., Scozzari, C., Wiemer, C., Lamagna, L., Perego, M., Ghidini, G., Fanciulli, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2010 87(3):290-293
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2006 253(1):17-20
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ghidini, G., Galbiati, N., Mascellino, E., Scozzari, C., Sebastiani, A., Amoroso, SALVATORE MARIA, MONZIO COMPAGNONI, Christian, SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro, Maconi, Alessandro, Piagge, R., Del Vitto, A., Alessandri, M., Baldi, I., Moltrasio, E., Albini, G., Grossi, A., Tessariol, P., Camerlenghi, E., Mauri, A.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3731::8109f51b9999a7b731e46627b9f5be1c
http://hdl.handle.net/11311/578314
http://hdl.handle.net/11311/578314