Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Pia Sanda"'
Autor:
Franco Stellari, Peilin Song, Moyra K. McManus, Robert Gauthier, Alan J. Weger, Kiran Chatty, Mujahid Muhammad, Pia Sanda
Publikováno v:
EDFA Technical Articles. 6:20-30
Latchup has long been a concern for CMOS technologies and is becoming more of an issue with the reduction of transistor dimensions and spacing. Although many techniques for avoiding the risk of latchup have been developed, they generally apply to spe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9ae5dfdbeaf2760092be27f0fc769beb
https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2004-3.p020
https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2004-3.p020
Autor:
William Huott, Moyra McManus, Daniel Knebel, Steven Steen, Dennis Manzer, Pia Sanda, Steven Wilson, Yuen Chan, Antonio Pelella, Stanislav Polonsky
Publikováno v:
EDFA Technical Articles. 2:13-16
Shmoo plotting began in the early 1970s and still has wide use in characterizing device performance against various parameters. Typically, Shmoo plots measure device frequency or cycle time versus voltage. The debug described in this article focused
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7f026498ab59268c34a30ac085180ea8
https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2000-4.p013
https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2000-4.p013
Publikováno v:
2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual; 2003, p99-104, 6p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.