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pro vyhledávání: '"Pièges de charge"'
Autor:
Liu, Peng
La microscopie de grille à balayage (SGM pour Scanning GateMicroscopy), développée à la fin des années 1990, est devenue un outilpuissant pour étudier les propriétés électroniques locales dans lesnano-dispositifs semi-conducteurs. La SGM est
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2011GRENY042/document
Autor:
Liu, Peng
Publikováno v:
Physics [physics]. Université de Grenoble, 2011. English. ⟨NNT : 2011GRENY042⟩
Scanning gate microscopy (SGM), developed in the late 1990's, has become a powerful tool to investigate the local electronic properties in semiconductor nano devices. SGM is based on the AFM technique but the metallic tip is used as a movable gate ca
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::e6b03ef405c4ebc510915ccdece71376
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00635475/file/Liu-thesis-high.pdf
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