Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Photo-induced thermal force"'
Autor:
Hwi Je Woo, Mingu Kang, Yeonjeong Koo, Kyoung-Duck Park, Bongsu Kim, Eun Seong Lee, Junghoon Jahng
Publikováno v:
Discover Nano, Vol 19, Iss 1, Pp 1-31 (2024)
Abstract Photo-induced force microscopy (PiFM) represents a scanning probe technique renowned for its ability to provide high-resolution spectroscopic imaging at the nanoscale. It capitalizes on the amplification of tip motion by photo-induced forces
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/604aacdc635a4c45bcab068cba84221c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.