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pro vyhledávání: '"Philippe Andreucci"'
Autor:
Philippe Andreucci
Publikováno v:
Le journal de l'école de Paris du management. :37-44
Pour passer d’une idee en laboratoire a un vrai produit industriel, le cheminement est long et jalonne d’intuitions, de chances et de deconvenues. Philippe Andreucci nous livre un retour d’experience sur le passage d’une technologie amont fra
Autor:
Christian Sarbach, Samuel Vergès, Florine Coiffard, Christophe Constancias, Benoit Champigneulle, Stéphane Doutreleau, Philippe Andreucci, Laurent Duraffourg, Eric Postaire
Publikováno v:
Medical Research Archives. 10
A study to measure the composition of exhaled air was carried out in subjects living in the highest city in the world: La Rinconada in Peru. People living at high altitude have a strongly disturbed metabolism and have to deal with major physiological
Autor:
Mouna Klein, Hubert Grange, Laurent Lachal, C. Marcoux, Audrey Berthelot, Pascal Lavios, E. Lajoinie, Marie-Helene Vaudaine, Julien Chiaroni, Franck Lasbordes, Sylvain Auclair, Jean-Marc Finet, Roland Garcia-Santana, O. Louveau, Roselyne Assidi, Fanny Delaguillaumie, Philippe Andreucci
Publikováno v:
ECS Transactions. 16:37-44
Due to the devices downscaling, the HF vapor release process, one of the most effective techniques for MEMS release, becomes more challenging regarding stiction. An initial compatibility study shows that many metals are compatible excepted Ni and Cu.
Autor:
Amal Chabli, Peter Cherns, Nicolas Chevalier, David Cooper, Dominique Lafond, François Bertin, Henri Blanc, Ariel Brenac, Philippe Andreucci, Jean-Christophe Gabriel, Erik M. Secula, David G. Seiler, Rajinder P. Khosla, Dan Herr, C. Michael Garner, Robert McDonald, Alain C. Diebold
Publikováno v:
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics. AIP, 2009
2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, May 2009, Albany, New York, United States. pp.12-20, ⟨10.1063/1.3251207⟩
ResearcherID
2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, May 2009, Albany, New York, United States. pp.12-20, ⟨10.1063/1.3251207⟩
ResearcherID
International audience; Depending on the level of the technological developments, the characterization techniques are mature tosupport them or still require protocol definition and relevance demonstration for the issues addressed. For BeyondCMOS and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::56834d9add8aebf5479754f426c6258f
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01549318/file/47-Chabli_caract-3d_Chabli_et_al.pdf
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01549318/file/47-Chabli_caract-3d_Chabli_et_al.pdf
Autor:
Philippe Andreucci, Laurent Duraffourg
Publikováno v:
Physique Chimie.
Sujet relativement complexe, les phenomenes de dissipation se retrouvent dans de nombreux domaines d’applications et de disciplines. Apres un bref rappel du contexte actuel en terme de nanotechnologies, cet article s’attache a expliciter ces phen
Autor:
Philippe Andreucci, Laurent Duraffourg
Publikováno v:
Nanosciences et nanotechnologies.
Les nanostructures diverses sont de plus en plus presentes dans le monde de l’industrie. En effet, ce marche en forte croissance s’approprie le developpement et la conception de nouveaux composants microsystemes. Apres un bref rappel du contexte
Publikováno v:
Travail des matériaux - Assemblage.
Les microsystemes, nes vers la fin des annees 1980 et commercialises a partir des annees 1990, connaissent actuellement un essor important. Les technologies des microsystemes ont en effet ete identifiees comme etant les plus prometteuses pour le ving
Autor:
Sebastien Hentz, C. Marcoux, Chaddy Kharrat, Eric Colinet, Laurent Duraffourg, Philippe Andreucci, Sebastien Labarthe, Ervin Mile, Guillaume Jourdan, Igor Bargatin
Publikováno v:
Nanotechnology. 21:165504
We report an actuation/detection scheme with a top-down nanoelectromechanical system (NEMS) for frequency shift based sensing applications with outstanding performance. It relies on electrostatic actuation and piezoresistive nanowire gauges for in-pl
Autor:
Rui Yang, Tina He, Mary Anne Tupta, Carine Marcoux, Philippe Andreucci, Laurent Duraffourg, Philip X-L Feng
Publikováno v:
Journal of Micromechanics & Microengineering; Sep2015, Vol. 25 Issue 9, p1-1, 1p