Zobrazeno 1 - 10
of 77
pro vyhledávání: '"Pham, N.P."'
Autor:
Seetharam, S.C., Laloy, E., Jivkov, A., Yu, L., Phung, Q.T., Pham, N.P., Kursten, B., Druyts, F.
Publikováno v:
In Construction and Building Materials 20 August 2019 216:347-361
Autor:
Tilmans, H.A.C., De Coster, J., Helin, P., Cherman, V., Jourdain, A., De Moor, P., Vandevelde, B., Pham, N.P., Zekry, J., Witvrouw, A., De Wolf, I.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2228-2234
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2005 78:138-141
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Micromechanics and Microengineering, 15 (4)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::1e2ad32633994b350e22b6bf151d6c8f
http://resolver.tudelft.nl/uuid:b06d955e-f5b1-4801-a27f-17a4a75b0642
http://resolver.tudelft.nl/uuid:b06d955e-f5b1-4801-a27f-17a4a75b0642
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pham, N.P., Cherman, V., Vandevelde, B., Limaye, P., Tutunjyan, N., Jansen, R., Van Hoovels, N., Tezcan, D.S., Soussan, P., Beyne, E., Tilmans, H.A.C.
Publikováno v:
2011 IEEE 61st Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2011, p1588-1595, 8p