Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Pham, Joseph"'
Publikováno v:
Adv. Quantum Technol. 2024, 2400086
Experimental implementations of quantum simulation must balance the controllability of the quantum system under test with decoherence typically introduced through interaction with external control fields. The ratio of coherent interaction strength to
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2401.17742
Publikováno v:
Phys. Rev. Applied 21, 054067 (2024)
Resolving the locations and discriminating the spin states of individual trapped ions with high fidelity is critical for a large class of applications in quantum computing, simulation, and sensing. We report on a method for high-fidelity state discri
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2303.10801
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Thesis (Ph. D.)--University of Texas at Austin, 2004.
Supervisor: Peter F. Green. Vita. Includes bibliographical references.
Supervisor: Peter F. Green. Vita. Includes bibliographical references.
Autor:
Pham, Joseph Q., Green, Peter F.
Publikováno v:
Journal of Chemical Physics; 4/1/2002, Vol. 116 Issue 13, p5801, 6p, 4 Graphs
Autor:
Pham, Joseph
Chapter 1 - Primate Chapter 2 - Prehistoric Apes Chapter 3 - Prehistoric Monkeys Chapter 4 - Tarsier Chapter 5 - Eocene Primates Chapter 6 - Lemur Chapter 7 - Ape
Autor:
Chao, Brook H., Palmieri, Frank, Jen, Wei-Lun, McMichael, D. Hale, Willson, C. Grant, Owens, Jordan, Berger, Rich, Sotoodeh, Ken, Wilks, Bruce, Pham, Joseph, Carpio, Ronald, LaBelle, Ed, Wetzel, Jeff
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69210C-69210C-14, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Chemical-mechanical photoresist drying in supercritical carbon dioxide with hydrocarbon surfactants.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2004, Vol. 22 Issue 2, p818-825, 8p