Zobrazeno 1 - 10
of 172
pro vyhledávání: '"Perpiñá, X."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2014 54(9-10):1839-1844
Autor:
León, J., Perpiñà, X., Banu, V., Montserrat, J., Berthou, M., Vellvehi, M., Godignon, P., Jordà, X.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2014 54(9-10):2207-2212
Autor:
Pardo, B., Gasse, A., Fargeix, A., Jakovenko, J., Werkhoven, R.J., Perpiñà, X., Jordà, X., Vellvehi, M., Van Weelden, T., Bancken, P.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2013 53(8):1084-1094
Autor:
Jakovenko, J., Formánek, J., Perpiñà, X., Jorda, X., Vellvehi, M., Werkhoven, R.J., Husák, M., Kunen, J.M.G., Bancken, P., Bolt, P.J., Gasse, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2013 53(8):1076-1083
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2314-2320
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2250-2255
Autor:
Perpiñà, X., Werkhoven, R., Jakovenko, J., Formánek, J., Vellvehi, M., Jordà, X., Kunen, J., Bancken, P., Bolt, P.J.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2294-2300
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):2471-2476
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Applied Thermal Engineering 2011 31(10):1664-1672