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pro vyhledávání: '"Perfiles de reflectividad"'
Publikováno v:
ARCIMIS. Archivo Climatológico y Meteorológico Institucional (AEMET)
Agencia Estatal de Meteorología (AEMET)
Agencia Estatal de Meteorología (AEMET)
Ponencia presentada en: III Simposio Nacional de Predicción del Instituto Nacional de Meteorología, celebrado en 1996 en Madrid Se presentan los resultados de un estudio sobre la relación entre los datos procedentes de una selección de rayos nube
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5e9add064bc4f240101da25f74314736
http://hdl.handle.net/20.500.11765/4094
http://hdl.handle.net/20.500.11765/4094
Publikováno v:
Boletin de Geologia; ene-abr2022, Vol. 44 Issue 1, p149-159, 11p
Autor:
Navas Nuñez, Rafael Ignacio1 rafaelnavas23@gmail.com, Andrés Gamazo-Rusnac, Pablo1, Alexis Borrero-Hernandez, Armando1
Publikováno v:
Revista Técnica de la Facultad de Ingeniería de la Universidad del Zulia. sep-dic2022, Vol. 45 Issue 3, p156-163. 8p.
Publikováno v:
Boletín de Geología, Volume: 44, Issue: 1, Pages: 149-159, Published: 25 JAN 2022
Deconvolution attempts compensating for the distortions affecting a recorded seismogram, increasing its bandwidth and extracting subsurface reflectivity from such seismic trace. The estimated reflectivity needs the highest reliability and resolution
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fcdd76ecbdd11a3e34b45d30f1fe8cbe
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0120-02832022000100149&lng=en&tlng=en
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0120-02832022000100149&lng=en&tlng=en
Publikováno v:
Boletin de Geologia; ene-abr2022, Vol. 44 Issue 1, pI-I, 1p
La ciudad de Santiago (33.5 ºS, 70.6 ºW) presenta una compleja geografía que deriva en especiales características de las variables de capa límite, además de la ocurrencia de eventos de alta concentración de material particulado, asociados a es
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http://repositorio.uchile.cl/handle/2250/102383
Autor:
Casquel del Campo, Rafael, Holgado Bolaños, Miguel, Molpeceres Álvarez, Carlos Luis, Morales Furió, Miguel, Sanchez Perez, Angel M., Ocaña Moreno, José Luis
Publikováno v:
Anales de Ingeniería Mecánica, ISSN 0212-5072, 2008-02, Vol. 16, No. 1
Archivo Digital UPM
Universidad Politécnica de Madrid
Archivo Digital UPM
Universidad Politécnica de Madrid
En este trabajo se presenta el análisis de una técnica de metrología óptica utilizada para el control de procesos en línea en la fabricación de microchips. Se obtienen los perfiles de reflectividad en función del ángulo de incidencia para una
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::ffc4e80b84155a5f5137887473fd3329
https://oa.upm.es/2331/
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Publikováno v:
SEDICI (UNLP)
Universidad Nacional de La Plata
instacron:UNLP
Universidad Nacional de La Plata
instacron:UNLP
Se analiza la información de radio-eco obtenida por el radar FPS-18, de 10 cm de longitud de onda en sus presentaciones PPI y RHI. Se describen los programas que cumple el radar para obtener la información y asimismo las técnicas de análisis, mos
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::368aedc2eaa1505502232d78f21b30e1
http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/136316
http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/136316
Autor:
Albella Martín, José María
Han transcurrido varios años desde la aparición de Láminas delgadas y recubrimientos (CSIC, 2003), la obra de la que parte el presente volumen y que tuvo una gran acogida entre lectores y especialistas de habla española. Quizás ello se deba al e