Zobrazeno 1 - 10
of 942
pro vyhledávání: '"Perez-Murano F"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Camara, N., Rius, G., Huntzinger, J-R., Tiberj, A., Mestres, N., Perez-Murano, F., Godignon, P., Camassel, J.
We present an investigation of large, isolated, graphene ribbons grown on the C-face of on-axis semi-insulating 6H-SiC wafers. Using a graphite cap to cover the SiC sample, we modify the desorption of the Si species during the Si sublimation process.
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0812.4351
Autor:
Garcia-Sanchez, D., Paulo, A. San, Esplandiu, M. J., Perez-Murano, F., Forro, L., Aguasca, A., Bachtold, A.
Publikováno v:
Published in Phys. Rev. Lett. 99, 085501 (2007)
Bending-mode vibrations of carbon nanotube resonator devices were mechanically detected in air at atmospheric pressure by means of a novel scanning force microscopy method. The fundamental and higher order bending eigenmodes were imaged at up to 3.1G
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0712.3196
Autor:
Stokbro, K., Thirstrup, C., Sakurai, M., Quaade, U., Hu, Ben Yu-Kuang, Perez-Murano, F., Grey, F.
Publikováno v:
Phys. Rev. Lett. 80, 2618 (1998).
We report STM-induced desorption of H from Si(100)-H(2$\times1$) at negative sample bias. The desorption rate exhibits a power-law dependence on current and a maximum desorption rate at -7 V. The desorption is explained by vibrational heating of H du
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9802304
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1 May 2014 119:44-47
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering October 2013 110:234-240
Autor:
Murataj I; Advanced Materials and Life Science Division, Istituto Nazionale Ricerca Metrologica (INRiM), Strada delle Cacce 91, 10135, Torino, Italy.; Dipartimento di Scienza Applicata e Tecnologia, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, 10129, Torino, Italy., Angelini A; Advanced Materials and Life Science Division, Istituto Nazionale Ricerca Metrologica (INRiM), Strada delle Cacce 91, 10135, Torino, Italy., Cara E; Advanced Materials and Life Science Division, Istituto Nazionale Ricerca Metrologica (INRiM), Strada delle Cacce 91, 10135, Torino, Italy., Porro S; Dipartimento di Scienza Applicata e Tecnologia, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, 10129, Torino, Italy., Beckhoff B; Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587, Berlin, Germany., Kayser Y; Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587, Berlin, Germany., Hönicke P; Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587, Berlin, Germany., Ciesielski R; Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587, Berlin, Germany., Gollwitzer C; Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587, Berlin, Germany., Soltwisch V; Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587, Berlin, Germany., Perez-Murano F; IMB-CNM CSIC, Carrer dels Til·lers, 08193, Barcelona, Spain., Fernandez-Regulez M; IMB-CNM CSIC, Carrer dels Til·lers, 08193, Barcelona, Spain., Carignano S; ICCUB, Universitat de Barcelona, Carrer Martí i Franquès, 1, 08028, Barcelona, Spain., Boarino L; Advanced Materials and Life Science Division, Istituto Nazionale Ricerca Metrologica (INRiM), Strada delle Cacce 91, 10135, Torino, Italy., Castellino M; Dipartimento di Scienza Applicata e Tecnologia, Politecnico di Torino, Corso Duca degli Abruzzi, 24, 10129, Torino, Italy., Ferrarese Lupi F; Advanced Materials and Life Science Division, Istituto Nazionale Ricerca Metrologica (INRiM), Strada delle Cacce 91, 10135, Torino, Italy.
Publikováno v:
ACS applied materials & interfaces [ACS Appl Mater Interfaces] 2023 Dec 20; Vol. 15 (50), pp. 57992-58002. Date of Electronic Publication: 2023 Nov 22.